- 1x LF-B 3 (пробник магнитного поля от 100 кГц до 50 МГц)
- 1x LF-K 7 (пробник магнитного поля от 100 кГц до 50 МГц)
- 1x LF-R 3 (пробник магнитного поля от 100 кГц до 50 МГц)
- 1x LF-R 50 (пробник магнитного поля от 100 кГц до 50 МГц)
- 1x LF-R 400 (пробник магнитного поля от 100 кГц до 50 МГц)
- 1x LF-U 2,5 (пробник магнитного поля от 100 кГц до 50 МГц)
- 1x LF-U 5 (пробник магнитного поля от 100 кГц до 50 МГц)
Семейство пробников ближнего поля LF состоит из семи экранированных пробников ближнего поля для измерений излучения магнитных полей в длинноволновом, средневолновом и коротковолновом диапазонах электронных компонентов печатных плат на этапе разработки. Пробники выполняются в соответствии с потребностями заказчика.
Головки пробников из модельного ряда LF обеспечивают пошаговую локализацию источников помех внутри электронных блоков с печатными платами на этапе разработки. В первую очередь большие и более чувствительные пробники обнаруживают электромагнитные помехи на компонентах печатных плат на большом расстоянии. Далее пробники с более высоким разрешением более точно локализуют источники помех.
Направление и распределение поля на электронном блоке с печатными платами можно обнаружить при правильном использовании пробника ближнего поля.
Пробники ближнего поля имеют малые размеры и удобны в применении, электрически экранированы. Они могут быть подключены к анализатору спектра или осциллографу с входным сопротивлением 50 Ом. Сами пробники не имеют собственного входного активного сопротивления.