Фильтр
На базе установок с летающими пробниками SPEAНа базе средств периферийного сканированияПриборы для измерения характеристик транзисторовАвтоматизированные тестовые системы для полупроводниковых компонентов SPEA

Выявление контрафакта с использованием технологии периферийного сканирования

Технология применима для сложных цифровых компонентов: процессоры, память, ПЛИС, содержащих внутри идентификационную информацию, по которой происходит их опознание. Дополнительно при использовании контактных приспособлений (сокетов) можно проверить работу входных/выходных каскадов подобных компонентов, а для микросхем памяти — функции чтения/записи.


Присоединяйтесь к команде единомышленников Заполните заявку в Сервисную службу Самое интересное из жизни Остека в нашем инстаграме Более 300 видео на нашем канале Приглашаем к общению на нашей странице в Фейсбук