Фильтр
На базе установок с летающими пробниками SPEAНа базе средств периферийного сканированияПриборы для измерения характеристик транзисторовАвтоматизированные тестовые системы для полупроводниковых компонентов SPEA

Выявление контрафакта с использованием установок с летающими пробниками

Технология позволяет выявлять контрафакт, опираясь на систему качества производителя компонента. В настоящее время уровень повторяемости технологических процессов при производстве компонентов микроэлектроники очень высок. Анализ и сравнение определенных электрических параметров компонентов как по отпечаткам пальцев позволяет определять принадлежность этих компонентов конкретному производителю и делать выводы о вероятности контрактной поставки, стабильности и повторяемости компонентов в партии поставки. Также технология позволяет выявлять компоненты, имеющие дефекты, например, дефекты от воздействия статического электричества. Особенность применения технологии в том, что все перечисленные возможности доступны на оборудовании, стандартном для радиоэлектронных производств, и не требует специализированного оборудования, которым оснащаются микроэлектронные производства (тестеры компонентов, манипуляторы и т. п.).

Все установки с летающими пробниками серии SPEA40xx могут оснащаться технологией измерения узловых импедансов (NZT), позволяющей с высокой скоростью, точностью и повторяемостью (недоступной даже для стационарных измерительных приборов) проводить измерения по каждому выводу микросхемы емкости, входного сопротивления, падения напряжения на защитных диодах. Измеренные величины будут уникальными для данного производителя, а их повторяемость для этой партии компонентов будет характеризовать ее легальность для дальнейшего использования.


Присоединяйтесь к команде единомышленников Заполните заявку в Сервисную службу Самое интересное из жизни Остека в нашем инстаграме Более 300 видео на нашем канале Приглашаем к общению на нашей странице в Фейсбук