Фильтр
Система позиционирования для контроля ЭМС микросхем ICT1

Система позиционирования Langer ICT1 — это автоматизированный измерительный комплекс для контроля ЭМС параметров микросхем. ICT1 может в автоматическом режиме проводить тестирование компонентов на помехоустойчивость и помехоэмиссию. Тестирование осуществляется во время работы испытуемого компонента.

Характеристики
4-координатная система позиционирования для контроля ЭМС микросхем ICS 105 set

4-координатная система позиционирования для контроля ЭМС микросхем ICS 105 set — это точный инструмент для проведения автоматизированных высокочастотных измерений ближнего поля на ЭМС. Специализированный пробник способен определять наибольшее излучение на всей площади компонента и перемещаться непосредственно в месторасположение это излучения.

Характеристики
Производитель
Сбросить