1x XF-B 3-1 (пробник магнитного поля от 30 МГц до 6 ГГц)
1x XF-E 10 (пробник электрического поля от 30 МГц до 6 ГГц)
1x XF-R 3-1 (пробник магнитного поля от 30 МГц до 6 ГГц)
1x XF-R 400-1 (пробник магнитного поля от 30 МГц до 6 ГГц)
1x XF-U 2.5-1 (пробник магнитного поля от 30 МГц до 6 ГГц)
1x SMA-SMA 1 m (измерительный кабель SMA-SMA)
1x Case 5 (транспортировочный кейс)
Набор XF1 состоит из четырех пробников магнитного поля и одного пробника электрического поля для измерения электрических и магнитных полей от 30 МГц до 6 ГГц печатных плат на этапе разработки. Благодаря встроенному согласованию импедансов эти пробники менее чувствительны к низким частотам, чем пробники типа RF. Головки пробников из набора XF1 обеспечивают точную локализацию источников помех магнитного поля на печатных платах. Сначала пробник XF-R 400-1 используется для обнаружения электромагнитных помех на больших расстояниях. Далее пробники с более высоким разрешением могут применяться для более точного обнаружения источников помех. Пробник электрического поля используется для обнаружения полей электрических помех вблизи блоков с печатными платами. При правильном использовании пробников ближнего поля можно определить направление и распределение поля. Пробники ближнего поля имеют малые размеры и удобны в применении, электрически экранированы. Они могут быть подключены к анализатору спектра или осциллографу с входным сопротивлением 50 Ом. Сами пробники имеют собственное входное активное сопротивление.