Тестеры CT1000 имеют модульную систему для тестирования любого протокола связи, используемого на чипкартах, и обновления под новые технологии. Системы могут тестировать устройства, использующие протоколы единого стандарта (как ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFAREェ, DESFIREェ, FeliCaェ, ISO 11784/85, ICodeェ, Hitagェ, ISO 7816, ISO 7813), и способны проверять новое поколение протоколов чипкарт, таких как: флеш-карты, MMC, Micro-SD (с и без CPU внутри), M-SIM, HD-SIM, SIM-WAVE, and I2C.
Также системы CT1000 позволяют обеспечивать проверку функциональности путем применения протоколов используемых заказчиком.
RFID тест
RFID каналы тестера CT1000 могут одновременно с контролем протокола измерять индекс модуляции.
Каналы выполняют кодирование и расшифровку протокола связи в режиме реального времени во время теста.
Каждый канал также оборудован Программируемым Логическим Модулем, чтобы параллельно расшифровать протокол связи устройства, таким образом, выполняя полное функциональное тестирование внутренней структуры модуля.
Каналы также оборудованы DSPs процессорами, что позволяет тестировать изделия работающие на нестандартных протоколах.
НЧ/ВЧ частота теста: 125кГц ÷ 13.56МГц
СВЧ частота теста: 800 МГц ÷ 1 Ггц
Тестер CT1000 может быть укомплектован модулем с SAM интерфейсом для обеспечения высокого уровня надежности тестирования RFID устройств.
В серии тестеров CT1000 используется последнее поколение измерительных приборов, что позволяет сократить тестовое время и выполнять чрезвычайно точные измерения. Модули DVM могут обрабатывать полученные данные и проводить математические вычисления. Это гарантирует точные измерения, как для одиночных, так и для параллельных измерений.
Многофункциональный Параллельный Тест
Тестеры CT1000 выполняют расширенный параллельный тест: каждый модуль CT может параллельно проверять 32 синхронных или асинхронных устройства.
Кроме того, тестеры CT1000 были разработаны с учетом параллельного подключения, чтобы выполнять тестирование более чем 32 устройств.
Тестовые возможности
Чтобы гарантировать надежность и воспроизводимость результатов, CT1000 может выполнять такие предварительные тесты как обрыв, короткое замыкание и тест утечки, что позволяет проверять качество контактирования.
Измерение емкости/индуктивности
Системы CT1000 могут выполнить точное измерение емкости и индуктивности, проверяя входной сигнал чип карты во время контакта с RFID. Таким образом, возможно проверять корректную работу устройства перед сборкой, обнаруживая ошибки не выявляемые во время финального теста.
Тестирование пассивных устройств
Система CT1000 может проверять наличие таких пассивных устройств, как конденсаторы, резисторы, резонаторы.
Финишный тест
Система CT1000 проверяет условие связи чип карт с общепринятыми стандартными протоколами (ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, Mifare™, Desfire™, FeliCa™, ISO 11784/85, ICode™, Hitag™, ISO 7816, ISO 7813), и могут проводить тесты следующего поколения протоколов чип карт, таких как USB-Keys, MMC, Micro-SD (без внутреннего CPU), M-SIM, HD-SIM, SIM-WAVE и I²C. Кроме того, могут быть использованы протоколы заказчика.
Тестирование RFID устройств
Тестеры CT1000 могут проверять реальное рабочее пространство бесконтактных устройств RFID. Системы оборудованы антенной для обмена данными с RFID по радио, производя программируемые магнитные поля.
Мощность и качество сигнала
CT1000 может измерять коэффициент остаточной модуляции для оценки мощности и качества отклика тестируемого компонента.
Простота в использовании ПО
Система ATOSC2 позволяет без проблем разрабатывать и отлаживать тестовую программу благодаря VRAD (Very Rapid Application Development).
Пользовательский Графический Интерфейс и используемые алгоритмы упрощают создание программ. Тестовые инженеры также могут программировать систему на низком уровне с помощью интуитивно понятного интерфейса.
Автоматическая Генерация Тестовой Программы упрощается благодаря структуре, основанной на библиотеках родственных тестов.
VRAD позволяет следующее:
- Редактировать параметры устройства.
- Редактировать параметры теста.
- Импортировать данных из симуляторов.
- Автоматически генерировать тестовые программы.
- Создавать документы и отчеты.
Программы для производства
- Стандартная контрольная панель оператора.
- Встроенный монитор продукции в режиме реального времени.
- Повтор теста в случае ошибки.
- Анализ статистических данных процесса производства.
- Отбор проб на лету.
- Контроль работы с лотками.
Программы для отладки
- Изменение параметров измерения на лету.
- Shmoo plot (двух- или трехмерный).
- Характериограф.
- Виртуальный отладчик.
- Изменение тестовых последовательностей на лету.
- Отображение измеренных значений.