13 февраля 2019 года
Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2
13 февраля 2019 года ООО «Остек-Электро» проведет практический семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам в современных экономических условиях. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение».
На семинаре будет рассмотрен широкий круг вопросов:
Мероприятие будет проходить в формате практического семинара. С нашими экспертами, владеющими практически всеми технологиями производства и испытаний РЭА, а также этапами сборки и контроля производимой и разрабатываемой продукции, вы сможете обсудить прикладные задачи, с которыми приходится сталкиваться каждому современному специалисту, а также получить консультации по любой проблеме, возникающей при производстве электронной техники.
Участие в семинаре бесплатное!
Дата и время проведения: 13 февраля с 10:00 до 17:30.
Начало регистрации: 9:00.
Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.
Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из представленных ниже способов:
*Указать: название семинара, дату проведения, Ф.И.О., должность, название предприятия, город и контактный телефон.
Заявки на участие принимаются до 11 февраля 2019 г.
При возникновении вопросов обращайтесь к ведущему специалисту коммерческой группы Николину Антону Дмитриевичу по электронной почте: Nikolin.A@ostec-group.ru или по телефонам:
Будем рады видеть вас и ваших коллег в числе участников семинара!
Программа семинара 13.02.2019
Время |
Длительность |
Наименование |
Докладчик |
9:00 — 10:00 |
Регистрация участников, утренний кофе |
||
10:00 — 11:00 |
1:00 |
Принципы организации электрического тестирования при производстве РЭА. Подходы к электрическому тестированию. |
Андрей Насонов, технический директор ООО «Остек-Электро» |
11:00 — 11:30 |
0:30 |
Принципы организации входного контроля на предприятиях, производящих РЭА:
|
Андрей Насонов, технический директор ООО «Остек-Электро» |
11:30 — 12:30 |
1:00 |
Технология периферийного сканирования JTAG — незаменимое и эффективное средство локализации дефектов в сложных цифровых изделиях. |
Алексей Иванов, руководитель JTAG Technologies Russia |
12:30 — 13:30 |
1:00 |
Обед |
|
13:30 — 14:45 |
1:15 |
Решения для организации тестирования изделий микроэлектроники:
|
Игорь Васильев, руководитель направления ООО «Остек-Электро» |
14:45 — 15:15 |
0:30 |
Технология сигнатурного анализа для локализации неисправных компонентов:
|
Артем Малахов, руководитель проектов ЦИФ МГУ |
15:15 — 15:45 |
0:30 |
Кофе-брейк |
|
15:45 — 17:00 |
1:15 |
Решения для электрического контроля российского производства:
|
Антон Шейхо, начальник производственного отдела ООО «Остек-Электро» |
17:00 — 17:30 |
0:30 |
Ответы на вопросы, решение текущих задач, работа в демозале. |