Практический семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам в современных экономических условиях. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение»

Дата проведения

13 февраля 2019 года

Место проведения

Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2

13 февраля 2019 года ООО «Остек-Электро» проведет практический семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам в современных экономических условиях. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение».

На семинаре будет рассмотрен широкий круг вопросов:

Универсальные и лабораторные средства измерения (КИП).
Оснастка и приборы для входного контроля РЭА (выявление контрафакта).
Измерительные приборы СВЧ-диапазона.
Прецизионные генераторы и эталоны.
Зондовые станции и установки для измерения электрофизических параметров материалов.
ЭМС и антенные измерения (безэховые камеры и их оснащение).
Внутрисхемное тестирование системами с «летающими пробниками» SPEA.
Функциональное тестирование собранных печатных узлов.
Технология периферийного сканирования JTAG.
Тестирование кабельно-жгутовой продукции.

Мероприятие будет проходить в формате практического семинара. С нашими экспертами, владеющими практически всеми технологиями производства и испытаний РЭА, а также этапами сборки и контроля производимой и разрабатываемой продукции, вы сможете обсудить прикладные задачи, с которыми приходится сталкиваться каждому современному специалисту, а также получить консультации по любой проблеме, возникающей при производстве электронной техники.

Участие в семинаре бесплатное!

Дата и время проведения: 13 февраля с 10:00 до 17:30.

Начало регистрации: 9:00.

Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.

Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из представленных ниже способов:

по электронной почте*: info@ostec-group.ru, Nikolin.A@ostec-group.ru;
по телефону: +7 (495) 788-44-44;
заполнив форму заявки внизу страницы.

*Указать: название семинара, дату проведения, Ф.И.О., должность, название предприятия, город и контактный телефон.

Заявки на участие принимаются до 11 февраля 2019 г.

При возникновении вопросов обращайтесь к ведущему специалисту коммерческой группы Николину Антону Дмитриевичу по электронной почте: Nikolin.A@ostec-group.ru или по телефонам: 8 (495) 788-44-44, (доб.: 5461), +7 (916) 008-93-13.

Будем рады видеть вас и ваших коллег в числе участников семинара!

Программа семинара 13.02.2019

Время	Длительность	Наименование	Докладчик
*9:00 — 10:00*		*Регистрация участников, утренний кофе*
10:00 — 11:00	1:00	Принципы организации электрического тестирования при производстве РЭА. Подходы к электрическому тестированию.	Андрей Насонов, технический директор ООО «Остек-Электро»
11:00 — 11:30	0:30	Принципы организации входного контроля на предприятиях, производящих РЭА: Проблема контрафакта. Предпосылки организации входного контроля. Типовые методы контроля компонентов. Нормативная база. Мировой опыт по работе с поставщиками.	Андрей Насонов, технический директор ООО «Остек-Электро»
11:30 — 12:30	1:00	Технология периферийного сканирования JTAG — незаменимое и эффективное средство локализации дефектов в сложных цифровых изделиях.	Алексей Иванов, руководитель JTAG Technologies Russia
*12:30* — *13:30*	*1:00*	*Обед*
13:30 — 14:45	1:15	Решения для организации тестирования изделий микроэлектроники: Проведение функционального и параметрического контроля полупроводниковых приборов на пластине с помощью зондовых станций. Автоматизированные системы для измерения электрофизических параметров материалов: удельное и поверхностное сопротивление, ТКС. Стандарты для проведения калибровки оборудования. Программное обеспечение для экстракции SPICE параметров полупроводниковых приборов.	Игорь Васильев, руководитель направления ООО «Остек-Электро»
14:45 — 15:15	0:30	Технология сигнатурного анализа для локализации неисправных компонентов: Возможности применения сигнатурного анализа для безопасного электрического тестирования компонентов и локализации неисправных электронных компонентов. Примеры из практики по обнаружению неисправных электронных компонентов. Машинное зрение — необходимая технология 21-го века.	Артем Малахов, руководитель проектов ЦИФ МГУ
*15:15* — *15:45*	*0:30*	*Кофе-брейк*
15:45 — 17:00	1:15	Решения для электрического контроля российского производства: Решения для контроля электротехнической продукции: обзор решений для контроля электротехнических изделий; примеры построения рабочих мест контроля жгутов; разработка технологической оснастки, опыт из практики. Решения для входного контроля ЭКБ: рабочее место контроля мощных полупроводниковых приборов; рабочее место контроля полупроводниковых приборов; рабочее место контроля пассивных компонентов.	Антон Шейхо, начальник производственного отдела ООО «Остек-Электро»
17:00 — 17:30	0:30	Ответы на вопросы, решение текущих задач, работа в демозале.

Заявка на участие

Пресс-центр

Схема проезда

Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2

Заявка на участие

Сайты направлений

Промо сайты