29 января 2019

ГК Остек приглашает на семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам в современных экономических условиях. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение»

13 февраля 2019 года ООО «Остек-Электро» проведет практический семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам в современных экономических условиях. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение».

На семинаре будет рассмотрен широкий круг вопросов:

  • Универсальные и лабораторные средства измерения (КИП).
  • Оснастка и приборы для входного контроля РЭА (выявление контрафакта).
  • Измерительные приборы СВЧ-диапазона.
  • Прецизионные генераторы и эталоны.
  • Зондовые станции и установки для измерения электрофизических параметров материалов.
  • ЭМС и антенные измерения (безэховые камеры и их оснащение).
  • Внутрисхемное тестирование системами с «летающими пробниками» SPEA.
  • Функциональное тестирование собранных печатных узлов.
  • Технология периферийного сканирования JTAG.
  • Тестирование кабельно-жгутовой продукции.

Мероприятие будет проходить в формате практического семинара. С нашими экспертами, владеющими практически всеми технологиями производства и испытаний РЭА, а также этапами сборки и контроля производимой и разрабатываемой продукции, вы сможете обсудить прикладные задачи, с которыми приходится сталкиваться каждому современному специалисту, а также получить консультации по любой проблеме, возникающей при производстве электронной техники.

Участие в семинаре бесплатное!

Дата и время проведения: 13 февраля с 10:00 до 17:30.

Начало регистрации: 9:00.

Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.

Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из представленных ниже способов:

*Указать: название семинара, дату проведения, Ф.И.О., должность, название предприятия, город и контактный телефон.

Заявки на участие принимаются до 11 февраля 2019 г.

При возникновении вопросов обращайтесь к ведущему специалисту коммерческой группы Николину Антону Дмитриевичу по электронной почте: Nikolin.A@ostec-group.ru или по телефонам: 8 (495) 788-44-44, (доб.: 5461), +7 (916) 008-93-13.

Будем рады видеть вас и ваших коллег в числе участников семинара!


Программа семинара 13.02.2019

Время

Длитель-ность

Наименование

Докладчик

9:00 — 10:00

Регистрация участников, утренний кофе

10:00 — 11:00

1:00

Принципы организации электрического тестирования при производстве РЭА. Подходы к электрическому тестированию.

Андрей Насонов, технический директор

ООО «Остек-Электро»

11:00 — 11:30

0:30

Принципы организации входного контроля на предприятиях, производящих РЭА:

  • Проблема контрафакта. Предпосылки организации входного контроля.
  • Типовые методы контроля компонентов. Нормативная база.
  • Мировой опыт по работе с поставщиками.

Андрей Насонов, технический директор

ООО «Остек-Электро»

11:30 — 12:30

1:00

Технология периферийного сканирования JTAG — незаменимое и эффективное средство локализации дефектов в сложных цифровых изделиях.

Алексей Иванов, руководитель JTAG Technologies Russia

12:30 — 13:30

1:00

Обед

13:30 — 14:45

1:15

Решения для организации тестирования изделий микроэлектроники:

  • Проведение функционального и параметрического контроля полупроводниковых приборов на пластине с помощью зондовых станций.
  • Автоматизированные системы для измерения электрофизических параметров материалов: удельное и поверхностное сопротивление, ТКС. Стандарты для проведения калибровки оборудования.
  • Программное обеспечение для экстракции SPICE параметров полупроводниковых приборов.

Игорь Васильев, руководитель направления

ООО «Остек-Электро»

14:45 — 15:15

0:30

Технология сигнатурного анализа для локализации неисправных компонентов:

  • Возможности применения сигнатурного анализа для безопасного электрического тестирования компонентов и локализации неисправных электронных компонентов.
  • Примеры из практики по обнаружению неисправных электронных компонентов.
  • Машинное зрение — необходимая технология 21-го века.

Артем Малахов, руководитель проектов

ЦИФ МГУ

15:15 — 15:45

0:30

Кофе-брейк

15:45 — 17:00

1:15

Решения для электрического контроля российского производства:

  • Решения для контроля электротехнической продукции:
    • обзор решений для контроля электротехнических изделий;
    • примеры построения рабочих мест контроля жгутов;
    • разработка технологической оснастки, опыт из практики.
  • Решения для входного контроля ЭКБ:
    • рабочее место контроля мощных полупроводниковых приборов;
    • рабочее место контроля полупроводниковых приборов;
    • рабочее место контроля пассивных компонентов.

Антон Шейхо, начальник производственного отдела

ООО «Остек-Электро»

17:00 — 17:30

0:30

Ответы на вопросы, решение текущих задач, работа в демозале.