7 октября 2015

Новый контроллер периферийного сканирования универсального применения

JTAG Technologies представляет новый контроллер периферийного сканирования JT5705/FXT, выполненный в бескорпусном варианте. При построении многофункциональных тестовых систем зачастую требуется смонтировать JTAG-контроллер внутрь стенда, оснастки или производственного тестера. Такая задача может возникать, например, при комбинации периферийного сканирования и ICT-теста. Использование контроллера JT5705/FXT упрощает создание таких интегрированных тестовых систем. Контроллер выполнен в виде платы 60мм х 75мм, имеющей два 68-контактных разъема типа SMC 1,27 мм для подключения к стороннему оборудованию.

JT5705_FXT.jpg

Устройство обеспечивает тестирование цифровых плат с использованием 2-х синхронных TAP-портов, полностью отвечающих требованиям стандарта периферийного сканирования IEEE 1149.1. Также у контроллера имеется 64 дополнительных канала ввода/вывода. Все 64 канала по умолчанию являются цифровыми, однако 8 из них можно использовать как аналоговые — для измерения или стимуляции напряжения от 0 до 30 Вольт. 16 каналов из общего числа также могут быть использованы для измерения частоты. При желании контроллер JT5705 можно мультиплексировать (использовать несколько контроллеров для увеличения числа TAP-портов и каналов IO).

JT5705/FXT может поставляться также в комплекте с несущей платой JT2702/BO, которая имеет посадочное место для JT5705/FXT и более привычные и удобные разъемы IDC с шагом 2,54мм: два для TAP-портов и четыре для каналов IO.

JTAG Technologies также создает линейку плат-переходников для JT5705/FXT, которые можно устанавливать в различные готовые тестовые адаптеры третьих производителей, например, Ingun, MG и т.д.

За более подробной информацией обращайтесь в ближайшее представительство JTAG Technologies.