3 марта 2020

Семинар «JTAG как технология тестирования: от разработки схемы до серийного производства – преимущества на всех этапах»

JTAG.JPG

Когда: 11 марта, 14:00–17:00

Где: Технопарк Сколково, Большой бульвар, 42, стр. 1, капсула № 2

Докладчик: Алексей Иванов, руководитель российского подразделения JTAG Technologies

Регистрация на семинар: ссылка

Миниатюрность цифровых изделий, использование корпусов BGA, PoP, применение «Систем в корпусе» критически усложняют тестирование и поиск дефектов на собранных платах. Сегодня единственным вариантом структурного тестирования таких плат остается периферийное сканирование.

Периферийное сканирование как технология должно внедряться с самого начала разработки цифрового изделия. На семинаре будет рассказано о JTAG-тестировании на всех этапах жизненного цикла разрабатываемого продукта.

Программа семинара:

  • Принцип работы периферийного сканирования.
  • Определение тестопригодности изделия на самых ранних этапах разработки и для уже производимых изделий.

· Использование периферийного сканирования в разработке и на производстве, а также комбинация с другими тестовыми методами.

Как добраться в Технопарк Сколково

Простой и эффективный способ — от станции м. Белорусская линия метро D1 (25-30 мин) или экспресс-поезд от платформы № 3 (19 мин) до остановки «Инновационный Центр / Сколково», пешком 300 метров до входа в бизнес-центр Амальтея и далее в Технопарк.

Чтобы ознакомиться с вариантами проезда на личном или другом общественном транспорте, а также для регистрации на семинар пройдите по ссылке.

По вопросам приобретения решений тестирования сложных цифровых изделий обращайтесь к эксклюзивному дистрибьютору JTAG Technologies ООО «Остек-Электро» по телефону: +7 495 788 44 44 или по электронной почте: ostecelectro@ostec-group.ru