Фильтр
Семейство пробников ближнего поля LF
Характеристики
Набор пробников ближнего поля LF1
Характеристики
Модельный ряд пробников ближнего поля RF
Характеристики
Набор пробников ближнего поля RF6
Характеристики
Набор пробников ближнего поля RF5
Характеристики
Набор пробников ближнего поля RF4-E
Характеристики
Набор пробников ближнего поля RF3
Характеристики
Набор RF2 set пробников ближнего поля
Характеристики
Набор пробников ближнего поля RF1
Характеристики
Семейство пробников ближнего поля XF
Характеристики
Набор пробников ближнего поля XF1
Характеристики
Набор пробников ближнего поля SX1
Характеристики
Набор MFA 02 set активных пробников ближнего поля
Характеристики
Набор активных пробников ближнего поля MFA 01
Характеристики
Генератор импульсных помех SGZ 21

Генератор импульсных помех SGZ 21 — это прибор для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Прибор имитирует электростатический разряд (ГОСТ 30804.4.2) и импульсные помехи по стандартам ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5, позволяющий инжектировать ток в выбранные области (компоненты, контактные дорожки) испытуемого оборудования. Инжекция осуществляется вручную с помощью источников электрического и магнитного полей, подключаемых к генератору помех. Также генератор имеет оптический вход для измерения сигналов от испытуемых печатных плат.

Характеристики
Оптический датчик S21

Оптический датчик S21 — это цифровой датчик от компании Langer EMV-Technik для проведения испытаний на помехоустойчивость печатных по плат по методикам стандартов ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5. Датчик подключают к испытуемой плате, которая питает его. В датчике цифровой сигнал управления платой преобразуется в оптический сигнал и по оптоволоконному кабелю передается на измерительный приемник или на осциллограф, позволяя контролировать явления, возникающие при воздействии помех на плату. Оптический кабель не вносит дополнительных помех при проведении испытаний.

Характеристики
Комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат S2 set
Характеристики
Активный пробник магнитного поля MSA 02
Характеристики
Пассивный пробник магнитного поля MS 102
Характеристики
Пассивный пробник магнитного поля MS 101
Характеристики
Пробник магнитного поля MS 02

Пробник магнитного поля MS 02 — это прибор для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Прибор предназначен для измерения переменных магнитных полей внутри испытуемого устройства, определяя каналы прохождения наведенных помех.

Характеристики
Источник электрического поля ES 08D
Характеристики
Источник электрического поля ES 05D
Характеристики
Источник электрического поля ES 02
Характеристики
Источник электрического поля ES 01
Характеристики
Источник электрического поля ES 00
Характеристики
Комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат E1 set

E1 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы. В состав системы входит генератор, имитирующий электростатический разряд (ГОСТ 30804.4.2) и импульсные помехи по стандартам ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5, позволяющий инжектировать ток помехи в выбранные области (компоненты, контактные дорожки) испытуемого оборудования. Инжекция осуществляется вручную с помощью источников электрического и магнитного полей, подключаемых к генератору помех. На концах источников поля генерируются направленные силовые линии. Как только поле достигает помехонеустойчивого компонента, сразу начинают проявляться функциональные неисправности. Форма и размеры источников выбираются исходя из видов и размеров исследуемых объектов, типа поля помехи.

Характеристики
Источник магнитного поля BS 05DU
Характеристики
Источник магнитного поля BS 05D
Характеристики
Источник магнитного поля BS 04DB
Характеристики
Источник магнитного поля BS 02
Характеристики
Головка 05U активного пробника магнитного поля MSA 02
Характеристики
Головка 05R активного пробника магнитного поля MSA 02
Характеристики
Головка 05K активного пробника магнитного поля MSA 02
Характеристики
Оптический датчик AS 350

Оптический датчик AS 350 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический датчик AS 300

Оптический датчик AS 300 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический датчик AS 200

Оптический датчик AS 200 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический датчик AS 120

Оптический датчик AS 120 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический датчик AS 110

Оптический датчик AS 110 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический датчик AS 100

Оптический датчик AS 100 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический приемник AE 300

Оптический приемник AE 300 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот приемник непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический приемник AE 200

Оптический приемник AE 200 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот приемник непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Оптический приемник AE100

Оптический приемник AE100 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот приемник непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Характеристики
Комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат A300-2 set

A300-2 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

Характеристики
Комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат A300-1 set

A300-1 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

Характеристики
Комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат A200-2 set

A200-2 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

Характеристики
Комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат A200-1 set

A200-1 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

Характеристики
Комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат A100-2 set

A100-2 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

Характеристики