E1 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы. В состав системы входит генератор, имитирующий электростатический разряд (ГОСТ 30804.4.2) и импульсные помехи по стандартам ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5, позволяющий инжектировать ток помехи в выбранные области (компоненты, контактные дорожки) испытуемого оборудования. Инжекция осуществляется вручную с помощью источников электрического и магнитного полей, подключаемых к генератору помех. На концах источников поля генерируются направленные силовые линии. Как только поле достигает помехонеустойчивого компонента, сразу начинают проявляться функциональные неисправности. Форма и размеры источников выбираются исходя из видов и размеров исследуемых объектов, типа поля помехи.
Состав комплекта:
1x SGZ 21 (генератор импульсных помех);
1x S21 (оптический датчик (10 Мбит/с));
1x BS 02 (источник магнитного поля);
1x BS 04DB (источник магнитного поля);
1x BS 05D (источник магнитного поля);
1x BS 05DU (источник магнитного поля);
1x ES 00 (источник электрического поля);
1x ES 01 (источник электрического поля);
1x ES 02 (источник электрического поля);
1x ES 05D (источник электрического поля);
1x ES 08D (источник электрического поля);
1x MS 02 (пробник магнитного поля);
1x E1 acc (дополнительные принадлежности);
1x NT FRI EU (блок питания);
1x E1 case (транспортировочный кейс);
1x E1 m (руководство по эксплуатации).
Параметры генератора импульсных помех:
время нарастания импульса: 2 нс;
время среза импульса: 10 нс;
максимальная частота следования импульсов: 5 МГц;
минимальная ширина импульса: 100 нс;
пиковые значения: 0...1500 В;
оптический вход: оптоволокно 2,2 мм;
напряжение источника питания: 12 В / 200 мА;
размеры (Д x Ш x В): (154×100×62) мм.
Запросить в один клик
Заказать звонок
Запрос оборудования на тестирование
?>
Сайт использует файлы cookie, обрабатываемые вашим браузером. Подробнее об этом вы можете узнать в Политике cookie.