Фильтр
На базе установок с летающими пробниками SPEAНа базе средств периферийного сканированияПриборы для измерения характеристик транзисторовАвтоматизированные тестовые системы для полупроводниковых компонентов SPEA

Решения для входного контроля элементной базы

Контрафакт, высокий уровень бракованных компонентов являются реальной проблемой современности. Мы предлагаем решения, основанные на применении как стандартного тестового оборудования, предназначенного для электронных производств с использованием методов экспресс-диагностики, так и специализированного, используемого производителями компонентов. Выбор тех или иных средств определяется уровнем ответственности изделия и возможностями самого производства.


Присоединяйтесь к команде единомышленников Заполните заявку в Сервисную службу Самое интересное из жизни Остека в нашем инстаграме Более 300 видео на нашем канале Приглашаем к общению на нашей странице в Фейсбук