Электрический контроль — установки контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA

Тестер компонентов C430MX обладает большой функциональностью в компактном экономичном тестере, специально предназначенном для снижения стоимости теста для устройств со смешанным высокочастотным сигналом и силовых устройств.

В частности C430MX предназначен для пластин и финального теста устройств со смешанным сигналом, силовых устройств с цифровыми контроллерами и мощных автомобильных приложений.

Многофункциональные тестеры серии CT1000 для модулей чипкарт (CPU, память, RFID, UHF устройства) Системы CT1000 в состоянии проверять чипкарты контактным и безконтактным методами, могут контролировать устройства с двойным интерфейсом (проверять контактные и бесконтактные чипкарты в едином тесте).

Тестовая система SPEA C600MX разработана, чтобы обеспечить высокую эффективность и высокую пропускную способность тестирования «систем на кристалле» и «система в корпусе». Большое число каналов и широкий выбор инструментов позволяет проводить многофункциональный параллельный тест, что существенно сокращает время выхода изделия на рынок. Масштабируемая и модульная архитектура платформы позволяет Вам легко изменять и расширять конфигурацию системы с помощью различных модулей.

Тестовые системы 4060 позволяют контролировать изделия на керамической подложке.

Применение линейных приводов на аэродинамических подшипниках по осям X, Y и Z и оптических датчиков с высоким разрешением, позволило получить высокие показатели точности позиционирования — пробники могут контактировать в площадки размером менее 80 мкм.