Фильтр
Пассивный датчик ближнего поля для измерения электрических полей до 40 ГГц LANGER EMV-Technik
Характеристики
Набор аналого-оптического конвертера для автомобильных последовательных шин данных OB 100 Set
Характеристики
Набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем P1402 / P1502 set
Характеристики
Инжектор импульсов тока ICI I900 L-EFT
Характеристики
Инжектор импульсного магнитного поля ICI HH500-15 L-EFT
Характеристики
Инжектор импульсного электрического поля ICI E450 L-EFT
Характеристики
Набор инжекторов для ввода кратковременных импульсов (НИП) ICI 03 L-EFT
Характеристики
Набор инжекторов кратковременных импульсов (НИП) ICI 01 L-EFT
Характеристики
Сканер микросхем FLS 106 IC
Характеристики
Набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем S603 / S750 set

S603 / S750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех на сигнальных дорожках и контактах Vdd / Vss микросхемы во время ее функционирования.

Характеристики
Набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем P1602 /P1702 set

P1602 /P1702 set — набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать тип и уровень излучения помех в диапазоне частот до 3 ГГЦ в ближнем поле от микросхемы во время ее функционирования. Программное обеспечение ChipScan-ESA проводит расчет и анализ полученных результатов и отображает их в виде графиков и таблиц.

Характеристики
Набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем P1601 /P1702 set

P1601 /P1702 set — набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать тип и уровень излучения помех в диапазоне частот до 1 ГГЦ в ближнем поле от микросхемы во время ее функционирования. Программное обеспечение ChipScan-ESA проводит расчет и анализ полученных результатов и отображает их в виде графиков и таблиц.

Характеристики
Производитель
Сбросить

Электронные компоненты российского производства