Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат

Генератор электрического поля P21 — это устройство от компании Langer EMV-Technik для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки. Инженер-разработчик может вручную использовать этот генератор непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы.

Генератор магнитного поля P12 — это устройство компании Langer EMV-Technik для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки. Инженер-разработчик может вручную использовать этот генератор непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы.

Генератор магнитного поля P11 — это устройство от компании Langer EMV-Technik для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки. Инженер-разработчик может вручную использовать этот генератор непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы.

P1 set — комплект генераторов импульсных помех от компании Langer EMV-Technik для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки. Инженер-разработчик может использовать этот комплект на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы.

Трансформатор импульсов PT4 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik, которое гальванически разделяет выходные импульсы с генератора импульсов по стандартам ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5. Прибор преобразует импульсы с генератора импульсов в беспотенциальные, которые передаются на источники поля, излучая направленные силовые линии поля напряжением до 4,4 кВ. Внутри соединительного кабеля PT4 находятся демпфирующие элементы, предотвращающие попадание высокочастотных синфазных токов от генератора импульсов на тестируемое устройство. В своем роде PT4 — это устройство связи/развязки для испытаний воздействий кондуктивных помех на печатные платы.

PT4 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы.

H4-IC set — набор для проверки интегральных микросхем на устойчивость к наносекундным импульсным помехам на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. В набор входит источник магнитного поля, излучающий помехи на интегральные микросхемы. Инженер-разработчик может использовать этот набор непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, проверять его помехоустойчивость к электрически быстрым переходным процессам (пачкам) по ГОСТ IEC 61000-4-4-2016.

H3 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы.

H2 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы.

Источник магнитного поля BS 06DB-s — это прибор компании Langer EMV-Technik для испытаний на помехоустойчивость интегральных микросхем на этапе разработки. Он подключается к генератору импульсных помех по стандартам ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5 и излучает магнитное поле, позволяя вручную либо с помощью автоматической системы сканирования, воздействовать помехой на области микросхемы. Воздействие позволяет локализовать неустойчивые к магнитным полям места на микросхеме.

Система позиционирования Langer ICT1 — это автоматизированный измерительный комплекс для контроля ЭМС параметров микросхем. ICT1 может в автоматическом режиме проводить тестирование компонентов на помехоустойчивость и помехоэмиссию. Тестирование осуществляется во время работы испытуемого компонента.

4-координатная система позиционирования для контроля ЭМС микросхем ICS 105 set — это точный инструмент для проведения автоматизированных высокочастотных измерений ближнего поля на ЭМС. Специализированный пробник способен определять наибольшее излучение на всей площади компонента и перемещаться непосредственно в месторасположение это излучения.