P603-1 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех от каждой ножки микросхемы во время ее функционирования.
P603 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех от каждой ножки микросхемы во время ее функционирования.
P600 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех на сигнальных дорожках и контактах Vdd / Vss микросхемы во время ее функционирования.
P503 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.
P501 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.
P500 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.
P331-2 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандарту ГОСТ
P331
P250 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к импульсным помехам от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандартам ГОСТ 30804.4.4 «Устойчивость к наносекундным импульсным помехам» и МЭК
P202/P302
ICE1 set— комплект для измерений ЭМС-характеристик интегральных микросхем (ИС) во время предварительных испытаний на устойчивость к излучаемым и кондуктивным помехам на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, локализовывать и дифференцировать неустойчивые области и компоненты микросхемы во время ее функционирования.