Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат

P603-1 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех от каждой ножки микросхемы во время ее функционирования.

P603 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех от каждой ножки микросхемы во время ее функционирования.

P600 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех на сигнальных дорожках и контактах Vdd / Vss микросхемы во время ее функционирования.

P503 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.

P501 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.

P500 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.

P331-2 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандарту ГОСТ 30804.4.2-2013 («Устойчивость к электростатическим разрядам») контактным разрядом либо с использованием модели тела человека. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования электростатический разряд, определяя уровень устойчивости к нему.

P331 L-ESD set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандарту ГОСТ 30804.4.2-2013 («Устойчивость к электростатическим разрядам») контактным разрядом, однако параметры импульса ЭСР 0,2/5 нс. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования электростатический разряд, определяя уровень устойчивости к нему.

P250 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к импульсным помехам от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандартам ГОСТ 30804.4.4 «Устойчивость к наносекундным импульсным помехам» и МЭК 62215-3 «Несинхронный быстрый метод введения импульсных помех». Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования кондуктивные помехи, определяя уровень устойчивости к ним. Наличие модулей конденсаторов различной емкости позволяет регулировать параметры испытательных импульсов.

P202/P302 L-EFT set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к помехам, вызванным электростатическими разрядами и наносекундными импульсными помехами от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования кондуктивные помехи, определяя уровень устойчивости к ним. Использование инжекторов импульсных помех совместно с системой позиционирования ICT 1 позволяет проводить испытания в автоматическом режиме.

ICE1 set— комплект для измерений ЭМС-характеристик интегральных микросхем (ИС) во время предварительных испытаний на устойчивость к излучаемым и кондуктивным помехам на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, локализовывать и дифференцировать неустойчивые области и компоненты микросхемы во время ее функционирования.