Меню

Войти

ПОИСК ПО САЙТУ

+7 495 788-44-44

Сервисный центр

+7 495 788-44-44

Сервисный центр

Главная страница
Каталог оборудования
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат

Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат

Фильтр

Показать по:12 24 48 96

Семейство пробников ближнего поля LF

Характеристики

Набор пробников ближнего поля LF1

Характеристики

Модельный ряд пробников ближнего поля RF

Характеристики

Набор пробников ближнего поля RF6

Характеристики

Набор пробников ближнего поля RF5

Характеристики

Набор пробников ближнего поля RF4-E

Характеристики

Набор пробников ближнего поля RF3

Характеристики

Набор RF2 set пробников ближнего поля

Характеристики

Набор пробников ближнего поля RF1

Характеристики

Семейство пробников ближнего поля XF

Характеристики

Набор пробников ближнего поля XF1

Характеристики

Набор пробников ближнего поля SX1

Характеристики

1 ... 3 4 5 6 7 ... 10

Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)