Тестовое оборудование этого типа предназначены для параметрического и функционального тестирования полупроводниковых силовых компонентов на различных стадиях производства (на пластинах, подложках, корпусированные).

Обеспечивает снятие статических и динамических характеристик.

Конфигурация системы определяется решаемыми задачами и необходимой производительностью. Поддерживается параллельное тестирование. Широкий набор дополнительных модулей позволяет проводить тестирование полупроводниковых компонентов цифрового, аналогового и смешанного типов.

Фильтр

Решения для производств компонентов микроэлектроники

Тестовое оборудование этого типа предназначены для параметрического и функционального тестирования полупроводниковых силовых компонентов на различных стадиях производства (на пластинах, подложках, корпусированные).

Обеспечивает снятие статических и динамических характеристик.

Конфигурация системы определяется решаемыми задачами и необходимой производительностью. Поддерживается параллельное тестирование. Широкий набор дополнительных модулей позволяет проводить тестирование полупроводниковых компонентов цифрового, аналогового и смешанного типов.


Электронные компоненты российского производства