Тестовое оборудование этого типа предназначены для параметрического и функционального тестирования полупроводниковых силовых компонентов на различных стадиях производства (на пластинах, подложках, корпусированные).
Обеспечивает снятие статических и динамических характеристик.
Конфигурация системы определяется решаемыми задачами и необходимой производительностью. Поддерживается параллельное тестирование. Широкий набор дополнительных модулей позволяет проводить тестирование полупроводниковых компонентов цифрового, аналогового и смешанного типов.
ФильтрРешения для производств компонентов микроэлектроники
Тестовое оборудование этого типа предназначены для параметрического и функционального тестирования полупроводниковых силовых компонентов на различных стадиях производства (на пластинах, подложках, корпусированные).
Обеспечивает снятие статических и динамических характеристик.
Конфигурация системы определяется решаемыми задачами и необходимой производительностью. Поддерживается параллельное тестирование. Широкий набор дополнительных модулей позволяет проводить тестирование полупроводниковых компонентов цифрового, аналогового и смешанного типов.