Фильтр
Тестовые системы с летающими пробниками SPEA Тестовые системы адаптерного типа SPEAТестовые системы периферийного сканирования JTAG TechnologiesФункциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)Адаптеры и тестовые пробники INGUN
Высокоточная установка электрического тестирования с 8 «летающими» пробниками и двусторонним доступом SPEA 4080

Не имеющая аналогов производительность и возможности измерительной системы 4080 позволяют говорить о том, что она устанавливает новые стандарты тестирования плат с помощью летающих пробников.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Установка функционального контроля с «летающими» пробниками SPEA 4020

Установка функционального контроля SPEA 4020 разработана специально для контроля радиоэлектронных изделий в масштабах опытного производства. Сферы наиболее частого применения связаны с контролем пилотных партий продукции, штучных изделий. За счет простоты конструкции и экономической доступности машина часто привлекается для проведения НИР, ОКР и задействована в подготовке будущих специалистов по специальности тестовый инженер в ВУЗах.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Установка внутрисхемного контроля и тестирования с «летающими» пробниками SPEA 4050

Выбор тестового решения на базе системы SPEA 4050 может быть продиктован требованиями к высокой производительности сборочного производства. В режиме работы средне- и крупносерийного предприятия такая машина способна служить альтернативой традиционным адаптерным тестерам. Это оптимальный баланс производительности и полной стоимости владения оборудованием для современных предприятий, производящих массовые радиоэлектронные изделия.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Установка электрического контроля с «летающими» пробниками SPEA 4060

Максимум производительности и функциональности в рамках одной платформы системы SPEA 4060. Удовлетворение любых качественных и количественных запросов по электрическому тестированию и контролю качества производимой продукции со стороны всех служб предприятия. Разработка, входной контроль, производство, регулировка, ремонт или испытания — на каждом этапе SPEA 4060 является незаменимым инструментом.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики

Тестовые системы SPEA «с летающими» пробниками

Последнее слово в тестировании собранных печатных плат. Для проведения внутрисхемного контроля (ICT) – контроля на соответствие конструкторской документации, а именно проверки номиналов компонентов, целостности цепей, поиск КЗ, поиск непропаев – нет необходимости в добавлении специальных тестовых площадок. Щупы обеспечивают непосредственный контакт с местами паек компонентов. Также возможно проведение функционального контроля (FT) – проверка работоспособности микросхем, измерение напряжений в контрольных точках, измерение частот, токов утечек, внутрисхемного программирования микросхем (OBP), тестирование плат при помощи технологии периферийного сканирования (BS).


Присоединяйтесь к команде единомышленников Заполните заявку в Сервисную службу Самое интересное из жизни Остека в нашем инстаграме Более 300 видео на нашем канале Приглашаем к общению на нашей странице в Фейсбук