P250 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к импульсным помехам от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандартам ГОСТ 30804.4.4 «Устойчивость к наносекундным импульсным помехам» и МЭК 62215-3 «Несинхронный быстрый метод введения импульсных помех». Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования кондуктивные помехи, определяя уровень устойчивости к ним. Наличие модулей конденсаторов различной емкости позволяет регулировать параметры испытательных импульсов.
Состав комплекта:
P250, инжектор импульсных помех;
TS 250-2.2p, модуль конденсатора 2.2 пФ;
TS 250-10p, модуль конденсатора 10 пФ;
TS 250-1n, модуль конденсатора 1 нФ;
TS 250-100p, модуль конденсатора 100 пФ;
TS 250-100n, модуль конденсатора 100 нФ;
SM 02-01, шунт;
HV FI-SHV 1m, высоковольтный кабель 1 м Fischer-SHV;