Набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем P600 / P750 set

P600 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех на сигнальных дорожках и контактах Vdd / Vss микросхемы во время ее функционирования.

Измерение происходит методом прямого соединения 1 Ом / 150 Ом согласно стандарту МЭК 61967-4. С помощью набора ICE1 исследуемая ИС размещается на коммутационной плате, и к каждой ее ножке (или дорожке) подводится пробник тока или напряжения, синхронизированный с ПО ChipScan-ESA. Программное обеспечение ChipScan-ESA проводит анализ полученных результатов и отображает их в виде графиков и таблиц.

Состав комплекта:

• P602, пробник тока 0,1 Ом;
• P622, пробник тока 0,1 Ом активный;
• P603, пробник тока 1 Ом;
• P623, пробник тока 1 Ом активный;
• P750, пробник напряжения 150 Ом;
• CS-ESA set, ПО ChipScan-ESA;
• SMA-SMB 1 m, измерительный кабель 1 м SMA-SMB;
• NT FRI EU, источник питания;
• P600 / P750 acc, доп. принадлежности;
• P600 / P750 case, транспортировочный кейс;
• P600 / P750 m, руководство пользователя.