Набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем P603 / P750 set

P603 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех от каждой ножки микросхемы во время ее функционирования.

Измерение происходит на ножках микросхемы методом прямого соединения 1 Ом / 150 Ом согласно стандарту МЭК 61967-4. С помощью набора ICE1 исследуемая ИС размещается на коммутационной плате, и к каждой ее ножке подводится пробник тока или напряжения, синхронизированный с ПО ChipScan-ESA. Программное обеспечение ChipScan-ESA проводит анализ полученных результатов и отображает их в виде графиков и таблиц.

Состав комплекта:

• P603, пробник тока 1 Ом;
• P750, пробник напряжения 150 Ом;
• CS-ESA, ПО ChipScan-ESA;
• SMA-SMB 1 m, измерительный кабель 1 м, SMA-SMB;
• P603 / P750 case, транспортировочный кейс;
• P603 / P750 m, руководство пользователя.