Набор пробников ближнего поля RFS состоит из трех пассивных пробников, предназначенных для измерения электрического и магнитного полей.
Пробники используются для работы в частотном диапазоне от 30 МГц до 3 ГГц. Головки пробников из набора RFS обеспечивают точные измерения, необходимые для корректной локализации источников помех на электронном блоке с печатными платами. Пробники имеют токоослабляющий корпус и электрически экранированы, могут подключаться к анализатору спектра или осциллографу с входом 50 Ом. У этих пробников нет внутреннего входного/выходного сопротивления. Измерительный сигнал можно усиливать, используя предусилители PA 203 или PA 303.
Состав комплекта:
1x RFS-B 3-2 (пробник поля от 30 МГц до 3 ГГц).
1x RFS-E 03 (пробники поля от 30 МГц до 3 ГГц).
1x RFS-R 50-1 (пробник поля от 30 МГц до 3 ГГц).
1x SMA-SMA 1 m (измерительный кабель SMA-SMA 1 метр).
1x RFS case (транспортировочный кейс).
Характеристика
Пробник поля RFS-B3-2
Диапазон частот
от 30 МГц до 3 ГГц
Размеры головки пробника
Ø 2 мм
Разъем
SMA, вилка
Длина
≈ 55 мм
Частотная характеристика
Кривая коррекции магнитного поля [дБмкА/м]/[дБмкВ]
Кривая коррекции тока [дБмкА] / [дБмкВ]
Принципы измерения
Характеристика
Пробник поля RFS-E 03
Диапазон частот
от 30 МГц до 3 ГГц
Размеры головки пробника
≈ (4×4) мм
Разъем
SMA, вилка
Длина
≈ 55 мм
Частотная характеристика
Кривая коррекции магнитного электрического поля [дБмкВ/мм]/[дБмкВ]
Принципы измерения
Характеристика
Пробник поля RFS-R 50
Диапазон частот
от 30 МГц до 3 ГГц
Размеры головки пробника
Ø 10 мм
Разъем
SMA, вилка
Длина
≈ 55 мм
Частотная характеристика
Кривая коррекции магнитного поля [дБмкА/м]/[дБмкВ]