Заказать звонок +7 495 788-44-44
Меню
  • Предприятие
    • О предприятии
    • Пресс-центр
    • Карьера
    • Сертификаты
    • Реквизиты
  • Каталог оборудования
    • Собственные разработки
    • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
    • Контрольно-измерительные приборы (КИП)
    • Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
    • Решения для производств компонентов микроэлектроники
    • Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
    • Подготовка к производству, оснастка
    • Средства автоматизированного программирования
    • Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
    • Производители
    • Тестовые системы с летающими пробниками
    • Тестовые системы адаптерного типа
    • Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
    • Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
    • Адаптеры и тестовые пробники INGUN
    • Анализаторы мощности
    • Анализаторы цепей
    • Анализаторы фликкер-шума
    • Анализаторы спектра
    • Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
    • Аудиоанализаторы
    • Векторные генераторы сигналов
    • Генераторы специальные
    • Датчики и измерители мощности
    • Измерители фазовых шумов
    • Измерители RLC
    • Источники-измерители
    • Источники питания
    • Логические анализаторы
    • Модульные системы
    • Осциллографы
    • Параметрические анализаторы
    • Пробники и аксессуары
    • Программное обеспечение
    • Прочие принадлежности
    • Тестеры коэффициента битовых ошибок
    • Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
    • Характериографы
    • Частотомеры
    • Цифровые мультиметры
    • Кабельные тестеры Sefelec
    • Мобильные тестовые системы
    • Магнитные измерения
    • Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
    • Тестеры электродвигателей SCHLEICH
    • Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
    • Микроманипуляторы Imina
    • Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
    • Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
    • Манипуляторы компонентов SPEA
    • Установки электротермотренировки SynergieCAD
    • Зондовые станции (Probe Stations)
    • Безэховые экранированные камеры для защиты информации
    • Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
    • Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
    • Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
    • Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
    • Радиопоглощающие материалы
    • Поворотные платформы и антенные мачты
    • Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
    • Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
    • Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
    • Измерительные приемники ЭМП
    • GTEM-камеры
    • Реверберационные камеры для ЭМС
    • Электроакустические измерительные приборы
    • Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
    • Системы экранированного видеонаблюдения
    • Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
    • Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
    • Средства внутрисхемного программирования SMH
    • Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
    • Рабочее место контроля пассивных компонентов
    • Рабочее место контроля проводов
    • Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
    • Рабочее место контроля реле
    • Рабочее место контроля цифровых микросхем
    • Рабочее место визуального контроля
    • Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
  • Собственные разработки
  • База знаний
    • Статьи и публикации
    • Каталоги и брошюры
    • Глоссарий
    • Задать вопрос
    • Видео
  • Контакты
  • Клиентам
    • Личные данные
    • Ваше оборудование
    • Заявки на сервис
    • Анкеты
    • Задать вопрос
    • Лист запросов
    • Подписка
Войти
ПОИСК ПО САЙТУ
Каталог товаров Собственные разработки Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки) Контрольно-измерительные приборы (КИП)
 
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели) Решения для производств компонентов микроэлектроники Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
 
Подготовка к производству, оснастка Средства автоматизированного программирования Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Направление О предприятии Пресс-центр Карьера Сертификаты Реквизиты Собственные разработки База знаний Статьи и публикации Каталоги и брошюры Глоссарий Задать вопрос Видео
Клиентам Личные данные Ваше оборудование Заявки на сервис Анкеты Задать вопрос Лист запросов Подписка
Контакты
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
  • Направление
    • О предприятии
      • Карьера
      • Партнеры
      • Сертификаты
      • Политика конфиденциальности
    • Пресс-центр
      • Новости
      • Календарь событий
    • Карьера
    • Сертификаты
    • Реквизиты
  • Каталог оборудования
    • Собственные разработки
    • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
      • Тестовые системы с летающими пробниками
      • Тестовые системы адаптерного типа
      • Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
      • Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
      • Адаптеры и тестовые пробники INGUN
    • Контрольно-измерительные приборы (КИП)
      • Анализаторы мощности
      • Анализаторы цепей
      • Анализаторы фликкер-шума
      • Анализаторы спектра
      • Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
      • Аудиоанализаторы
      • Векторные генераторы сигналов
      • Генераторы специальные
      • Датчики и измерители мощности
      • Измерители фазовых шумов
      • Измерители RLC
      • Источники-измерители
      • Источники питания
      • Логические анализаторы
      • Модульные системы
      • Осциллографы
      • Параметрические анализаторы
      • Пробники и аксессуары
      • Программное обеспечение
      • Прочие принадлежности
      • Тестеры коэффициента битовых ошибок
      • Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
      • Характериографы
      • Частотомеры
      • Цифровые мультиметры
    • Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
      • Кабельные тестеры Sefelec
      • Мобильные тестовые системы
      • Магнитные измерения
      • Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
      • Тестеры электродвигателей SCHLEICH
      • Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
    • Решения для производств компонентов микроэлектроники
      • Микроманипуляторы Imina
      • Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
      • Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
      • Манипуляторы компонентов SPEA
      • Установки электротермотренировки SynergieCAD
      • Зондовые станции (Probe Stations)
    • Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
      • Безэховые экранированные камеры для защиты информации
      • Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
      • Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
      • Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
      • Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
      • Радиопоглощающие материалы
      • Поворотные платформы и антенные мачты
      • Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
      • Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
      • Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
      • Измерительные приемники ЭМП
      • GTEM-камеры
      • Реверберационные камеры для ЭМС
      • Электроакустические измерительные приборы
      • Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
      • Системы экранированного видеонаблюдения
      • Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
    • Подготовка к производству, оснастка
      • Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
      • Средства внутрисхемного программирования SMH
      • Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
    • Средства автоматизированного программирования
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
    • Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
      • Рабочее место контроля пассивных компонентов
      • Рабочее место контроля проводов
      • Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
      • Рабочее место контроля реле
      • Рабочее место контроля цифровых микросхем
      • Рабочее место визуального контроля
      • Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
    • Производители
  • Собственные разработки
  • База знаний
    • Статьи и публикации
    • Каталоги и брошюры
    • Глоссарий
    • Задать вопрос
    • Видео
  • Клиентам
    • Личные данные
    • Ваше оборудование
    • Заявки на сервис
    • Анкеты
    • Задать вопрос
    • Лист запросов
    • Подписка
  • Контакты
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
  • Главная страница
  • Каталог оборудования
  • Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
  • Электроакустические измерительные приборы

Решение для измерения уровня звука компании DEWESoft

ООО «Остек-Электро»
Молдавская ул., д. 5, стр. 2, Москва, Россия, 121467
Тел.: +7 (495) 788-44-44, факс: +7 (495) 788-44-42,
www.ostec-group.ru, info@ostec-group.ru
ИНН 7731483966, КПП 773101001, ОГРН 5147746324754,
ОКПО 17184889
Решение для измерения уровня звука компании DEWESoft Решение для измерения уровня звука компании DEWESoft Решение для измерения уровня звука компании DEWESoft Решение для измерения уровня звука компании DEWESoft
Добавить в лист запросов запросить в один клик Заказать звонок
Печать/PDF
  • Описание

Решение для измерения уровня звука компании DEWESoft предназначено для акустических измерений с максимальной точностью и широким динамическим диапазоном. Комплекс включает измеритель уровня звука класса 1, соответствует требованиям стандарта IEC 61672, в котором описываются два уровня производительности — классы 1 и 2, при этом устройства класса 1 рассматриваются как более точные. Измеритель уровня звука позволяет вычислить ряд параметров и каналов в реальном времени в ходе измерения. К таким параметрам и каналам относятся:

  • Lp (SPL) — уровень звукового давления с временной и частотной коррекциями, уже пересчитанный в дБ (децибел);
  • Lpk — текущее максимальное значение уровней шума;
  • необработанное значение с частотной коррекцией — временная зависимость звука с частотной коррекцией, выраженная в Па (паскалях);
  • Leq с частотной коррекцией — эквивалент уровня постоянного звука;
  • Lim — импульсивность звука. Является эквивалентом с импульсной коррекцией;
  • LE — энергия звука с частотной коррекцией.

С помощью октавных и третьоктавных фильтров возможен анализ сигнала в реальном времени и измерение выходной энергии для получения данных о частоте. Функция октавного анализа позволяет проводить хронологические измерения 1-октавных и 1/3-октавных диапазонов. Кроме того, на этапе постобработки можно проводить спектральный анализ по других диапазонах: например, 1/6, 1/12, 1/24 октавы.

Высокая точность акустических измерений достигается путём калибровки микрофона. Поскольку значение чувствительности изменяется со временем, калибровку нужно проводить регулярно. С ПО DEWESoft X откалибровать микрофон можно при помощи:

  • чипа TEDS (чувствительность микрофона записывается на чип, который будет считан ПО);
  • калибратора (специальная функция в DEWESoft X);
  • калибровочного сертификата (просто введите чувствительность при настройке канала микрофона).

Частотно-взвешенное измерение шумов — удобный способ измерения звука. DEWESoft использует различные виды частотного взвешивания для различных измерений.

  • Тип А применяется к измеренному уровню шума для вычисления относительной громкости, воспринимаемой ухом человека, менее чувствительным к низким и высоким частотам.
  • Тип B — наилучший метод для прослушивания музыки.
  • Тип C — для измерения высоких уровней шума.
  • Тип D — разработан специально для измерения сильных шумов ЛА по IEC 537. Крупный пик кривой D отражает, что человек по-разному слышит случайные шумы и шумы с равномерным спектром. Особенно чётко данный эффект прослеживается при частотах около 6 кГц.
  • Тип Z — линейно при любых частотах и оказывает одинаковый эффект на все измеренные значения.

При измерении уровня звука используются разные виды взвешивания по времени (скорость определяется относительно движения прибора):

  • быстрая — игла перемещается быстро, чтобы продемонстрировать часто изменяющийся шум. Соответствует константе времени 125 мс;
  • медленная — игла постепенно замедляется и сглаживает шум, чтобы упростить его считывание. Соответствует константе времени 1 с;
  • импульсная — скорость импульсной временной коррекции превышает скорость быстрой коррекции практически в четыре раза. Такая коррекция имеет краткую константу времени нарастания и медленную константу времени спада: константа времени нарастания импульсной коррекции — 35 мс, времени спада — 1,5 с.

Уровень истинного пикового значения является значением истинного пика сигнала ввода, выраженным в дБ. Уровень всегда содержит фильтр временной коррекции, который влияет на пиковое значение. Уровень звукового давления не может достичь таких высоких значений вне зависимости от того, будет ли выбрана быстрая (F), медленная (S) или импульсная (I) временная коррекция, однако значение LCpk демонстрирует «истинное пиковое значение».

Функциональные особенности:

  • Поддерживаемые стандарты. Измеритель уровня звука IEC 61672, класс 1.
  • Непревзойдённая гибкость. Плагин slm поддерживает измерения в воздухе и воде. Можно объединить его показания с данными с бортовых шин, видеокамер, GPS-приёмников и другими физическими параметрами и математическими операциями для создания полной картины измерений.
  • Широкий динамический диапазон. Лучшие в своём классе системы сбора данных обеспечивают динамический диапазон 160 дБ по временной и частотной областям и прямое получение сигнала с IEPE-совместимых микрофонов. Решения DEWESoft поддерживают TEDS для автоматического распознавания микрофонов. Можно подключить к системе любое количество микрофонов и быстро откалибровать их, используя калибратор.
  • Одновременное выполнение расширенных математических операций. Все настроенные в программе стандартные операции спектрального взвешивания по частотам (a, b, c, d и z) и времени (быстрое, медленное, импульсное), операции расчёта эквивалентного, пикового, минимального и максимального уровней звукового давления, акустической энергии, импульсности звука и статистического уровня шума (классы значений laf1, 5, 10, 50, 90, 95 и 99%) могут выполняться одновременно.
  • Богатые возможности визуализации. Для просмотра данных slm в реальном времени и при постобработке можно использовать любые комбинации цифровых счётчиков, аналоговых полос, рекордеров временной области и узкополосных БПФ- и октавных анализаторов.

Запросить в один клик

Ваше имя
Телефон
E-mail
Город
Организация
Текст вопроса


Текст с картинки
Заказать звонок
Ваше имя
Телефон
E-mail
Текст вопроса
*

Заполните форму

Организация
Фамилия
Имя
Отчество
Должность
E-mail
Телефон
Город
Укажите желаемую дату посещения
CAPTCHA
Текст с картинки

Запрос оборудования на тестирование

Ваше имя
Телефон
E-mail
Город
Организация
Текст сообщения


Текст с картинки

© 2020 ООО «Остек-Электро»
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
Свяжитесь с нами
© 2020 ООО «Остек-Электро»
Ваша заявка принята. Спасибо
Заявка успешно отправлена.

Менеджер свяжется с вами в ближайшее время

Ошибка соединения.