Заказать звонок
+7 495 788-44-44
Меню
Направление
О направлении
Пресс-центр
Карьера
Сертификаты
Каталог оборудования
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Производители
Тестовые системы с летающими пробниками SPEA
Тестовые системы адаптерного типа SPEA
Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
Адаптеры и тестовые пробники INGUN
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Кабельные тестеры Sefelec
Мобильные тестовые системы
Магнитные измерения
Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
Тестеры электродвигателей SCHLEICH
Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
Микроманипуляторы Imina
Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
Манипуляторы компонентов SPEA
Установки электротермотренировки SynergieCAD
Зондовые станции (Probe Stations)
Безэховые экранированные камеры для защиты информации
Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
Радиопоглощающие материалы
Поворотные платформы и антенные мачты
Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
Измерительные приемники ЭМП
GTEM-камеры
Реверберационные камеры для ЭМС
Электроакустические измерительные приборы
Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
Системы экранированного видеонаблюдения
Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
Средства внутрисхемного программирования SMH
Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
Рабочее место контроля пассивных компонентов
Рабочее место контроля проводов
Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
Рабочее место контроля реле
Рабочее место контроля цифровых микросхем
Рабочее место визуального контроля
Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Контакты
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Войти
ПОИСК ПО САЙТУ
Искать
Каталог товаров
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Направление
О направлении
Пресс-центр
Карьера
Сертификаты
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Контакты
Направление
О направлении
Карьера
Партнеры
Сертификаты
Политика конфиденциальности
Пресс-центр
Новости
Календарь событий
Карьера
Сертификаты
Каталог оборудования
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Тестовые системы с летающими пробниками SPEA
Тестовые системы адаптерного типа SPEA
Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
Адаптеры и тестовые пробники INGUN
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Кабельные тестеры Sefelec
Мобильные тестовые системы
Магнитные измерения
Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
Тестеры электродвигателей SCHLEICH
Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Микроманипуляторы Imina
Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
Манипуляторы компонентов SPEA
Установки электротермотренировки SynergieCAD
Зондовые станции (Probe Stations)
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Безэховые экранированные камеры для защиты информации
Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
Радиопоглощающие материалы
Поворотные платформы и антенные мачты
Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
Измерительные приемники ЭМП
GTEM-камеры
Реверберационные камеры для ЭМС
Электроакустические измерительные приборы
Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
Системы экранированного видеонаблюдения
Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
Подготовка к производству, оснастка
Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
Средства внутрисхемного программирования SMH
Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
Средства автоматизированного программирования
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Рабочее место контроля пассивных компонентов
Рабочее место контроля проводов
Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
Рабочее место контроля реле
Рабочее место контроля цифровых микросхем
Рабочее место визуального контроля
Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
Производители
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Контакты
Главная страница
Каталог оборудования
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Пробники и аксессуары
Пробники и аксессуары
Фильтр
Показать по:
12
24
48
96
Список
Таблица
P6982
Дифференциальный пробник для TLA7Bxx(3ГГц) и TLA7Cx(2ГГц), 17 каналов
Характеристики
P5910
Совместим с логическими анализаторами серии TLA6400.
Полоса пропускания: 2 ГГц.
Число каналов: 17.
Подходит для квадратных контактов 0,1 дюйма и 2 мм.
Характеристики
P5934
Совместим с логическими анализаторами серии TLA6400.
Полоса пропускания: 2 ГГц.
Число каналов: 34.
Разъем Amp Mictor.
Характеристики
P5960
Совместим с логическими анализаторами серии TLA6400.
Полоса пропускания: 2 ГГц.
Число каналов: 34.
Технология измерения
D-Max
с прижатием cLGA
Характеристики
P6960
Совместим с логическими анализаторами Tektronix серии TLA7000 и TLA6200.
Полоса пропускания: 3 ГГц (с модулями TLA7Bxx), 2 ГГц (с модулями TLA7ACx).
Несимметричный пробник с 34 каналами.
Характеристики
P6960DBL
Совместимы с логическими анализаторами Tektronix серии TLA7000.
Число каналов: 68.
Полоса пропускания: 3 ГГц.
Входная ёмкость: 0,7 пФ.
Рабочий диапазон напряжений: — 2 В до +5 В.
Максимальное неразрушающее напряжение: ±15 В.
Характеристики
P6960HCD
Совместимы с логическими анализаторами Tektronix серии TLA7000.
Число каналов: 68.
Полоса пропускания: 3 ГГц.
Рабочий диапазон напряжений: 0 В до +1,5 В (совместимо с DDR3/DDR4).
Максимальное неразрушающее напряжение: ±7,5 В.
Характеристики
Дифференциальный пробник THDP0100
Полоса пропускания: 100 МГц.
Ослабление: 1:100, 1:1000.
Время нарастания сигнала: <3,5 нс.
Максимальное входное напряжение относительно земли: 2300 В, кат. I,1000 В, кат. III
Характеристики
Дифференциальный пробник THDP0200
Полоса пропускания: 200 МГц.
Ослабление: 1:50, 1:500.
Время нарастания сигнала: <1,8 нс.
Максимальное входное напряжение относительно земли: 1000 В, кат. II, 600 В, кат. III
Характеристики
Дифференциальный пробник TMDP0200
Полоса пропускания: 200 МГц.
Ослабление: 1:25, 1:250.
Время нарастания сигнала: <1,8 нс.
Максимальное входное напряжение относительно земли: 550 В, кат. I, 300 В, кат. III
Характеристики
Дифференциальный пробник P5200A
Полоса пропускания 50 МГц, ослабление 1: 50; 1:500, входное сопротивление 100 кОм, ±130 В; ±1300 В, 10 МОм
Характеристики
Дифференциальный пробник P5202A
Полоса пропускания:100 Мгц.
Ослабление: 1: 20; 1:200.
Дифференциальное напряжение: 640 В (1:200), 64 В (1:20).
Характеристики
Дифференциальный пробник P5205A
Полоса пропускания 100 МГц, ослабление 1: 50; 1:500, входное сопротивление 100 кОм, ±130 В; ±1300 В, 10 МОм
Характеристики
Дифференциальный пробник P5210A
Полоса пропускания 50 МГц, ослабление 1: 100; 1:1000, входное сопротивление 100 кОм, ±560 В; ±5600 В, 40 МОм
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP0500
Полоса пропускания 500 МГц, время нарастания 700 пс, ослабление 1: 5; 1:50, входное сопротивление 1 МОм, ±100 В, задержка 6,5 нс, выбор пределов фильтра полосы пропускания
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP1000
Полоса пропускания 1 ГГц, время нарастания 350 пс, ослабление 1: 5; 1:50, входное сопротивление 1 МОм, ±100 В, задержка 6,5 нс, выбор пределов фильтра полосы пропускания
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP1500
Полоса пропускания 1,5 ГГц, время нарастания 265 пс, ослабление 1:1; 1:10, входное сопротивление 200 кОм, вход ±25 В, длина 1,2 м
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP3500
Полоса пропускания 3,5 ГГц, время нарастания 110 пс, ослабление 1:5, входное сопротивление 100 кОм, вход ±15 В, длина 1,2 м
Характеристики
Дифференциальный пробник P6246
Полоса пропускания 400 МГц, время нарастания 875 пс, ослабление 1:1, 1:10 входное сопротивление 200 кОм, дифф. напряжение ±850 мВ, ±8,5 В, вход ±25 В, длина 1,2 м
Характеристики
Дифференциальный пробник P6251
Полоса пропускания 1 ГГц, время нарастания 350 пс, ослабление 1:5, 1:50 входное сопротивление 1 МОм, дифф. напряжение ±42 В, вход ±100 В, время задержки 6,5 нс, выбор пределов фильтра полосы пропускания
Характеристики
Дифференциальный пробник P7340A
Полоса пропускания 4 ГГц, время нарастания 100 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±1 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7360A
Полоса пропускания 6 ГГц, время нарастания 70 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±1 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7380A
Полоса пропускания 8 ГГц, время нарастания 55 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±1 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7313
Полоса пропускания 12,5 ГГц, время нарастания 40 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±0,625 В, вход ±15 В
Характеристики
Показать еще
1
2
3
4
5
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Тип оборудования
логические пробники
дифференциальные пробники
пассивные пробники
активные пробники
токовые пробники
высоковольтные пробники
Подробнее
Свернуть
Частотный диапазон
более 1 ГГц
от 500 МГц до 1 ГГц
до 100 МГц
от 100 МГц до 500 МГц
Показать
Сбросить