Заказать звонок
+7 495 788-44-44
Меню
Направление
О направлении
Пресс-центр
Карьера
Сертификаты
Каталог оборудования
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Производители
Тестовые системы с летающими пробниками SPEA
Тестовые системы адаптерного типа SPEA
Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
Адаптеры и тестовые пробники INGUN
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Кабельные тестеры Sefelec
Мобильные тестовые системы
Магнитные измерения
Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
Тестеры электродвигателей SCHLEICH
Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
Микроманипуляторы Imina
Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
Манипуляторы компонентов SPEA
Установки электротермотренировки SynergieCAD
Зондовые станции (Probe Stations)
Безэховые экранированные камеры для защиты информации
Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
Радиопоглощающие материалы
Поворотные платформы и антенные мачты
Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
Измерительные приемники ЭМП
GTEM-камеры
Реверберационные камеры для ЭМС
Электроакустические измерительные приборы
Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
Системы экранированного видеонаблюдения
Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
Средства внутрисхемного программирования SMH
Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
Рабочее место контроля пассивных компонентов
Рабочее место контроля проводов
Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
Рабочее место контроля реле
Рабочее место контроля цифровых микросхем
Рабочее место визуального контроля
Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Контакты
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Войти
ПОИСК ПО САЙТУ
Искать
Каталог товаров
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Направление
О направлении
Пресс-центр
Карьера
Сертификаты
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Контакты
Направление
О направлении
Карьера
Партнеры
Сертификаты
Политика конфиденциальности
Пресс-центр
Новости
Календарь событий
Карьера
Сертификаты
Каталог оборудования
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Тестовые системы с летающими пробниками SPEA
Тестовые системы адаптерного типа SPEA
Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
Адаптеры и тестовые пробники INGUN
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Кабельные тестеры Sefelec
Мобильные тестовые системы
Магнитные измерения
Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
Тестеры электродвигателей SCHLEICH
Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Микроманипуляторы Imina
Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
Манипуляторы компонентов SPEA
Установки электротермотренировки SynergieCAD
Зондовые станции (Probe Stations)
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Безэховые экранированные камеры для защиты информации
Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
Радиопоглощающие материалы
Поворотные платформы и антенные мачты
Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
Измерительные приемники ЭМП
GTEM-камеры
Реверберационные камеры для ЭМС
Электроакустические измерительные приборы
Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
Системы экранированного видеонаблюдения
Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
Подготовка к производству, оснастка
Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
Средства внутрисхемного программирования SMH
Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
Средства автоматизированного программирования
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Рабочее место контроля пассивных компонентов
Рабочее место контроля проводов
Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
Рабочее место контроля реле
Рабочее место контроля цифровых микросхем
Рабочее место визуального контроля
Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
Производители
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Контакты
Главная страница
Каталог оборудования
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Пробники и аксессуары
Пробники и аксессуары
Фильтр
Показать по:
12
24
48
96
Список
Таблица
Дифференциальный пробник P7350SMA
Полоса пропускания 5 ГГц, время нарастания 100 пс, ослабление 1:6,25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±2,5 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7380SMA
Полоса пропускания 8 ГГц, время нарастания 55 пс, ослабление 1:2,5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,625 В, вход ±5 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7313SMA
Полоса пропускания 13 ГГц, время нарастания 40 пс, ослабление 1:2,5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,800 В, вход ±5 В
Характеристики
Дифференциальный пробник Р7504
Полоса пропускания 4 ГГц, время нарастания 70 пс, ослабление 1:5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,75 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник Р7506
Полоса пропускания 6 ГГц, время нарастания 50 пс, ослабление 1:5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,75 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник Р7508
Полоса пропускания 8 ГГц, время нарастания 50 пс, ослабление 1:5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,75 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник Р7513A
Полоса пропускания 13 ГГц, время нарастания 35 пс, ослабление 1:5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,75 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник Р7516
Полоса пропускания 16 ГГц, время нарастания 24 пс, ослабление 1:5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,75 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник Р7520
Полоса пропускания 20 ГГц, время нарастания 20 пс, ослабление 1:5, 1:12,5 входное сопротивление 50 кОм, дифф. напряжение ±0,75 В, вход ±15 В
Характеристики
Пассивный пробник THP0301
Полоса пропускания 300 МГц,ослабление 10Х, входной импеданс 10 MОм, 10 пФ– 22 пФ, 11 пФ (тип.)
Характеристики
Пассивный пробник TPP0100
Полоса пропускания DC - 100 МГц,ослабление 10X, 8 пФ - 18 пФ, емкость (тип.) 12 пФ, 10 МОм
Характеристики
Пассивный пробник TPP0101
Полоса пропускания DC - 100 МГц,ослабление 10X, 15 пФ – 25 пФ, емкость (тип.) 12 пФ, 10 МОм
Характеристики
Пассивынй пробник TPP0200
Полоса пропускания DC - 200 МГц,ослабление 10X, 8 пФ - 18 пФ, емкость (тип.) 12 пФ, 10 МОм
Характеристики
Пассивный пробник TPP0201
Полоса пропускания DC - 200 МГц,ослабление 10X, 15 пФ – 25 пФ, емкость (тип.) 12 пФ, 10 МОм
Характеристики
Пассивный пробник TPP0500
Полоса пропускания 500 МГц,ослабление 10X, входной импеданс 10 MОм, <4 пФ
Характеристики
Пассивный пробник TPP0502
Полоса пропускания 500 МГц,ослабление 2X, входной импеданс 2 MОм, 12,4 пФ
Характеристики
Пассивный пробник TPP1000
Полоса пропускания 1 ГГц,ослабление 10X, входной импеданс 10 MОм, <4 пФ
Характеристики
Пассивный пробник P2220
Полоса пропускания 200 МГц,ослабление 10:1, входной импеданс 10 MОм,15пФ– 25 пФ
Характеристики
Пассивный пробник P2221
Полоса пропускания 200 МГц, ослабление 10:1, входной импеданс 10 MОм,10 пФ– 25 пФ
Характеристики
Пассивный пробник P3010
Полоса пропускания 100 МГц,ослабление 10Х, входной импеданс 10 MОм, 10 пФ– 15 пФ
Характеристики
Пассивный пробник P5050B
Полоса пропускания 500 МГц,ослабление 10x, входной импеданс 10 MОм, 8 пФ, 16 пФ– 22 пФ, кабель 1,3 м
Характеристики
Пассивный пробник P6101B
Полоса пропускания 15 МГц,ослабление 1Х, входной импеданс 1 MОм, 100 пФ, Подходят для всех моделей осциллографов
Характеристики
Пассивный пробник P6111B
Полоса пропускания 200 МГц,ослабление 10Х, входной импеданс 10 MОм, 10 пФ– 35 пФ, 14 пФ (тип.)
Характеристики
Пассивный пробник P6131
Полоса пропускания 300 МГц,ослабление 10Х, входной импеданс 10 MОм, 14 пФ– 18 пФ, 10,8 пФ (тип.)
Характеристики
Пассивный пробник P6137
Полоса пропускания 400 МГц,ослабление 10Х, входной импеданс 10 MОм, 12 пФ– 18 пФ, 10,8 пФ (тип.)
Характеристики
Пассивный пробник P6138
Полоса пропускания 400 МГц,ослабление 10Х, входной импеданс 10 MОм, 12 пФ– 18 пФ, 10,8 пФ (тип.)
Характеристики
Пассивный пробник P6139B
Полоса пропускания 500 МГц,ослабление 10x, входной импеданс 10 MОм, 8 пФ, 8 пФ– 18 пФ, кабель 1,3 м
Характеристики
Активный пробник P6205
Активный пробник, импеданс 1 МОм, полоса пропускания 750 МГц, 10X, макс. напряжение ±40 В (DC + пик AC), паразитная емкость 2 пФ, длина кабеля 1,5 м.
Характеристики
Активный пробник P6243
Активный пробник, импеданс 1 МОм, полоса пропускания 1 ГГц, 10X, макс. напряжение ±15 В (DC + пик AC), паразитная емкость ≤1 пФ, длина кабеля 1,3 м.
Характеристики
Активный пробник P6245
Активный пробник, импеданс 1 МОм, полоса пропускания 1,5 ГГц, 10X, макс. напряжение ±15 В (DC + пик AC), паразитная емкость ≤1 пФ, 1,3 м.
Характеристики
Активный пробник P7225
Активный пробник, импеданс 40 кОм, полоса пропускания 2,5 ГГц, 60 Вт,10X, макс. напряжение ±10 В (DC + пик AC), паразитная емкость ≤0,8 пФ, 1,3 м.
Характеристики
Активный пробник P7240
Активный пробник, импеданс 1 МОм, полоса пропускания 4 ГГц, 51 Вт,5X, макс. напряжение ±5 В (DC + пик AC), паразитная емкость ≤1 пФ, 1,3 м.
Характеристики
Активный пробник TAP1500
Активный пробник, импеданс 1 МОм, полоса пропускания ≥1,5 ГГц, 51 Вт,10X±2%, макс. напряжение ±15 В (DC + пик AC), паразитная емкость <1 пФ, 1,3 м.
Характеристики
Активный пробник TAP2500
Активный пробник, импеданс 40 кОм, полоса пропускания ≥2,5 ГГц, 51 Вт,10X, макс. напряжение ±10 В (DC + пик AC), паразитная емкость ≤0,8 пФ, длина кабела 1,3 м.
Характеристики
Активный пробник TAP3500
Активный пробник, импеданс 40 кОм, полоса пропускания ≥3,5 ГГц, 10X, макс. напряжение ±10 В (DC + пик AC), паразитная емкость ≤0,8 пФ, длина кабела 1,3 м.
Характеристики
Токовый пробник A621
Диапазон частот 5 Гц – 50 кГц, максимальный ток 2000 А, напряжение провода 600 В, измерение тока в широком диапазоне значений
Характеристики
Токовый пробник A622
Диапазон частот DC – 50 кГц, максимальный ток 100 А, напряжение провода 600 В, измерение тока в широком диапазоне значений
Характеристики
Токовый пробник СT1
Диапазон частот 25 кГц – 1 ГГц, время нарастания 350 пс, чувствительность 5 мВ/мА, макс. переменный ток 12 А, 6 мкГн
Характеристики
Токовый пробник СT2
Диапазон частот 1,2 кГц – 200 МГц, время нарастания 500 пс, 7 мкГн, чувствительность 1 мВ/мА, макс. переменный ток 36 А, подключение к SMD шагом от 0,5 мм
Характеристики
Токовый пробник СT6
Диапазон частот 250 кГц – 2 ГГц, время нарастания 200 пс, 1 мкГн, чувствительность 5 мВ/мА, макс. переменный ток 6 А
Характеристики
Токовый пробник P6021A
Диапазон частот 120 Гц – 60 МГц, время нарастания 5.8 нс, только переменный ток 10.6 СКЗ, , 250 А в пике, внутренний импеданс 1 МОм, зажим 5 мм.
Характеристики
Токовый пробник P6022
Диапазон частот 935 Гц – 120 МГц, время нарастания 2,9 нс, только переменный ток, внутренний импеданс 1 МОм, макс. переменный ток 6 А
Характеристики
Токовый пробник TCP305A / TCPA300
Диапазон частот DC – 50 МГц, макс. ток (пост.) 50 А, время нарастания ≤ 7 нс, макс. погрешность ±3%, мин. измеряемый ток 5 мА, задержка сигнала 19 нс
Характеристики
Токовый пробник TCP312A / TCPA300
Диапазон частот DC – 100 МГц, макс. ток (пост.) 30 А, время нарастания ≤ 3,5 нс, макс. погрешность ±3%, мин. измеряемый ток 1 мА, задержка сигнала 17 нс
Характеристики
Токовый пробник TCP303 / TCPA300
Диапазон частот DC – 15 МГц, макс. ток (пост.) 150 А, время нарастания ≤ 23 нс, макс. погрешность ±3%, мин. измеряемый ток 5 мА, задержка сигнала 40 нс
Характеристики
Токовый пробник TCP404XL / TCPA400
Диапазон частот DC – 2 МГц, макс. ток (пост.) 500 А, время нарастания ≤ 175 нс, макс. погрешность ±3%, мин. измеряемый ток 1 А, задержка сигнала 80 нс
Характеристики
Токовый пробник TCP0020
Диапазон частот DC – 50 МГц, макс. ток 20 А, время нарастания ≤ 7 нс, макс. погрешность ±3%, пиковый переменный ток 100 А, время задержки 17 нс
Характеристики
Токовый пробник TCP2020
Диапазон частот DC – 50 МГц, макс. ток 20 А, время нарастания ≤ 7 нс, макс. погрешность ±3%, пиковый переменный ток 100 А, время задержки 17 нс
Характеристики
Показать еще
1
2
3
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Тип оборудования
логические пробники
дифференциальные пробники
пассивные пробники
активные пробники
токовые пробники
высоковольтные пробники
Подробнее
Свернуть
Частотный диапазон
более 1 ГГц
от 500 МГц до 1 ГГц
до 100 МГц
от 100 МГц до 500 МГц
Показать
Сбросить