Решения для электрического контроля качества изделий
Решения для электрического контроля качества изделий
Группа Компаний Остек
Технологические решения для производства радиоэлектронной аппаратуры
Решения для производств электротехнических компонентов
Решения для производств электронных компонентов
Технологические материалы для производства радиоэлектронной аппаратуры
Химико-технологические решения
Комплексное оснащение производств и научно-исследовательских предприятий
Разработка и производство вакуумного и специализированного технологического оборудования
Комплексные проекты создания и развития производственных предприятий
Решения для организации испытаний и тестирования
Цифровая система управления производством
Направление цифровых производственных технологий
Ostec Marketing. Агентство промышленного маркетинга
Ostec Group (English version)
Заказать звонок
+7 495 788-44-44
Меню
Направление
О направлении
Пресс-центр
Клиенты
Карьера
Партнеры
Сертификаты
Политика конфиденциальности
Новости
НПЖ «Вектор высоких технологий»
Календарь событий
Каталог оборудования
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Производители
Тестовые системы с летающими пробниками SPEA
Тестовые системы адаптерного типа SPEA
Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
Адаптеры и тестовые пробники INGUN
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Кабельные тестеры Sefelec
Мобильные тестовые системы
Магнитные измерения
Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
Тестеры электродвигателей SCHLEICH
Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
Манипуляторы компонентов SPEA
Установки электротермотренировки SynergieCAD
Зондовые станции (Probe Stations)
Безэховые экранированные камеры для ФСТЭК и защиты информации
Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
Оборудование для испытания ЭМС DARE!! INSTRUMENTS
Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
Радиопоглощающие материалы
Поворотные платформы и антенные мачты
Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
Измерительные приемники ЭМП
GTEM-камеры
Реверберационные камеры для ЭМС
Электроакустические измерительные приборы
Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
Системы экранированного видеонаблюдения
Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
Средства внутрисхемного программирования SMH
Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
Рабочее место контроля пассивных компонентов
Рабочее место контроля проводов
Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
Рабочее место контроля реле
Рабочее место контроля цифровых микросхем
Рабочее место визуального контроля
Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Контакты
ENG
Войти
ПОИСК ПО САЙТУ
Искать
Искать по всем сайтам группы компаний Остек
Каталог товаров
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Направление
О направлении
Пресс-центр
Клиенты
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Контакты
Направление
О направлении
Карьера
Партнеры
Сертификаты
Политика конфиденциальности
Пресс-центр
Новости
НПЖ «Вектор высоких технологий»
Календарь событий
Клиенты
Каталог оборудования
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Тестовые системы с летающими пробниками SPEA
Тестовые системы адаптерного типа SPEA
Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
Адаптеры и тестовые пробники INGUN
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Кабельные тестеры Sefelec
Мобильные тестовые системы
Магнитные измерения
Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
Тестеры электродвигателей SCHLEICH
Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
Манипуляторы компонентов SPEA
Установки электротермотренировки SynergieCAD
Зондовые станции (Probe Stations)
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Безэховые экранированные камеры для ФСТЭК и защиты информации
Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
Оборудование для испытания ЭМС DARE!! INSTRUMENTS
Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
Радиопоглощающие материалы
Поворотные платформы и антенные мачты
Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
Измерительные приемники ЭМП
GTEM-камеры
Реверберационные камеры для ЭМС
Электроакустические измерительные приборы
Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
Системы экранированного видеонаблюдения
Подготовка к производству, оснастка
Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
Средства внутрисхемного программирования SMH
Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
Средства автоматизированного программирования
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Рабочее место контроля пассивных компонентов
Рабочее место контроля проводов
Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
Рабочее место контроля реле
Рабочее место контроля цифровых микросхем
Рабочее место визуального контроля
Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
Производители
Собственные разработки
База знаний
Статьи и публикации
Каталоги и брошюры
Глоссарий
Задать вопрос
Видео
Клиентам
Личные данные
Ваше оборудование
Заявки на сервис
Анкеты
Задать вопрос
Лист запросов
Подписка
Контакты
Главная страница
Каталог оборудования
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Пробники и аксессуары
Пробники и аксессуары
Фильтр
Показать по:
12
24
48
96
Список
Таблица
Дифференциальный пробник P5205A
Полоса пропускания 100 МГц, ослабление 1: 50; 1:500, входное сопротивление 100 кОм, ±130 В; ±1300 В, 10 МОм
Характеристики
Дифференциальный пробник P5210A
Полоса пропускания 50 МГц, ослабление 1: 100; 1:1000, входное сопротивление 100 кОм, ±560 В; ±5600 В, 40 МОм
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP0500
Полоса пропускания 500 МГц, время нарастания 700 пс, ослабление 1: 5; 1:50, входное сопротивление 1 МОм, ±100 В, задержка 6,5 нс, выбор пределов фильтра полосы пропускания
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP1000
Полоса пропускания 1 ГГц, время нарастания 350 пс, ослабление 1: 5; 1:50, входное сопротивление 1 МОм, ±100 В, задержка 6,5 нс, выбор пределов фильтра полосы пропускания
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP1500
Полоса пропускания 1,5 ГГц, время нарастания 265 пс, ослабление 1:1; 1:10, входное сопротивление 200 кОм, вход ±25 В, длина 1,2 м
Характеристики
Дифференциальный пробник TDP3500
Полоса пропускания 3,5 ГГц, время нарастания 110 пс, ослабление 1:5, входное сопротивление 100 кОм, вход ±15 В, длина 1,2 м
Характеристики
Дифференциальный пробник P6246
Полоса пропускания 400 МГц, время нарастания 875 пс, ослабление 1:1, 1:10 входное сопротивление 200 кОм, дифф. напряжение ±850 мВ, ±8,5 В, вход ±25 В, длина 1,2 м
Характеристики
Дифференциальный пробник P6251
Полоса пропускания 1 ГГц, время нарастания 350 пс, ослабление 1:5, 1:50 входное сопротивление 1 МОм, дифф. напряжение ±42 В, вход ±100 В, время задержки 6,5 нс, выбор пределов фильтра полосы пропускания
Характеристики
Дифференциальный пробник P7340A
Полоса пропускания 4 ГГц, время нарастания 100 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±1 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7360A
Полоса пропускания 6 ГГц, время нарастания 70 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±1 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7380A
Полоса пропускания 8 ГГц, время нарастания 55 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±1 В, вход ±15 В
Характеристики
Дифференциальный пробник P7313
Полоса пропускания 12,5 ГГц, время нарастания 40 пс, ослабление 1:5, 1:25, входное сопротивление 100 кОм, дифф. напряжение ±0,625 В, вход ±15 В
Характеристики
Показать еще
1
2
3
4
5
6
...
9
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Анализаторы мощности
Анализаторы цепей
Анализаторы фликкер-шума
Анализаторы спектра
Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
Аудиоанализаторы
Векторные генераторы сигналов
Генераторы специальные
Датчики и измерители мощности
Измерители фазовых шумов
Измерители RLC
Источники-измерители
Источники питания
Логические анализаторы
Модульные системы
Осциллографы
Параметрические анализаторы
Пробники и аксессуары
Программное обеспечение
Прочие принадлежности
Тестеры коэффициента битовых ошибок
Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
Характериографы
Частотомеры
Цифровые мультиметры
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
Решения для производств компонентов микроэлектроники
Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
Подготовка к производству, оснастка
Средства автоматизированного программирования
Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Производитель
PMK Mess- und Kommunikationstechnik GmbH
TEKTRONIX
Тип оборудования
логические пробники
дифференциальные пробники
пассивные пробники
активные пробники
токовые пробники
высоковольтные пробники
Подробнее
Свернуть
Частотный диапазон
более 1 ГГц
от 500 МГц до 1 ГГц
до 100 МГц
от 100 МГц до 500 МГц
Показать
Сбросить
Электронные компоненты российского производства