Набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем P1601 /P1702 set

P1601 /P1702 set — набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать тип и уровень излучения помех в диапазоне частот до 1 ГГЦ в ближнем поле от микросхемы во время ее функционирования. Программное обеспечение ChipScan-ESA проводит расчет и анализ полученных результатов и отображает их в виде графиков и таблиц.

Состав комплекта:

• P1601, пробник магнитного поля;
• P1702, пробник электрического поля;
• CS-ESA set, ПО ChipScan-ESA;
• BPM 02, измеритель магнитного поля;
• EPM 02, измеритель электрического поля;
• D70 h03, градуированное кольцо пробника электромагнитного поля 3 mm;
• D70 h10, градуированное кольцо пробника электромагнитного поля 10 mm;
• SMA-SMA 1 m, измерительный кабель 1 м SMA-SMA;
• SMA-SMB 1 m, измерительный кабель 1 м SMA-SMB;
• N-SMA, переходник N-SMA;
• =P1600 / P1700 case, транспортировочный кейс;
• =P1600 / P1700 m, руководство пользователя.