Перечень отечественных микросхем, поддерживающих технологию периферийного сканирования
Перечень отечественных микросхем, поддерживающих технологию периферийного сканирования.
В контексте импортозамещения зарубежной компонентной базы необходимо учитывать, что подавляющее большинство замещаемой базы микроконтроллеров, ПЛИС, процессоров, специализированных СБИС поддерживает стандарт IEEE 1149.1 (архитектура периферийного сканирования), позволяя проводить автоматический электроконтроль и диагностику производственных дефектов на собранных печатных платах. При тестировании сложной цифровой электроники альтернативы периферийному сканированию нет, поэтому, если основные (центральные) компоненты платы не поддерживают данный стандарт (IEEE 1149.1), то платы остаются без средств поиска и диагностики дефектов (подробнее о технологии периферийного сканирования можно прочитать здесь).
В данном информационном листке мы приводим информацию об отечественной компонентной базе, поддерживающей IEEE 1149.1. Этот список составлен по данным от самих производителей ИМС и может быть неполным.
Производитель
|
Микросхемы с поддержкой периферийного сканирования
|
ВЗПП-С
|
5576ХС4T, 5576ХС1Т1, 5576ХС1Т
|

Миландр
|
1967ВЦ2Ф, 1967ВЦ3Т, 1986ВЕ94, 1986ВЕ8,
Микросборка «Осведомленность», микросборка «Flip-Chip».
|

НТЦ Модуль
|
1878ВМ3, 1879ВМ5Я, 1879ВМ6Я (новинка), 1879ВЯ1Я, 1879ВМ7Я (текущая разработка)
|

АО «МЦСТ»
|
1891ВМ8Я (Эльбрус-4С) , 1891ВМ10Я (Эльбрус-8С)
|
НИИЭТ
|
1887ВЕ7Т, 1887ВЕ3Т, 1887ВЕ9Т (текущая разработка), 1867ВЦ2АТ, 1867ВЦ4Т, 1867ВЦ5Т, 1867ВЦ8Ф, 1867ВЦ9Т (текущая разработка), 1906BМ016 (текущая разработка)
|
Элвис-Неотек
|
1892ХД4Ф, 1892ВМ15Ф, 1892ВМ14Я
|
НПП «Цифровые решения»
|
5023ВС016 радиационно стойкий процессор «Спутник»
|