Система SPEA 3030 - компактная, расширяемая модульная система, гарантирующая эффективное выполнение внутрисхемного контроля, функционального теста, во всех отраслях производства электроники.
Гибкая архитектура аппаратной платформы позволяет обеспечивать максимальное тестовое покрытие и минимальное время тестирования, тем самым, уменьшая себестоимость продукции. Современное программное обеспечение «Leonardo» позволит вам быстро создать и отладить тестовую программу, используя дружественный интерфейс и абсолютно прозрачный принцип программирования каждого этапа. Система поддерживает более 30 стандартов CAD данных. Для доступа к тестируемому изделию тестер использует адаптер "ложе гвоздей" (bed-of-nails).
Возможности современных тестеров серии 3030:
внутрисхемный тест (аналоговый и цифровой);
безвекторный тест обрывов для выводов интегральных микросхем, разъёмов и полярных конденсаторов;
параметрический тест полупроводниковых компонентов;
тест с подключением источников питания (до 15 штук);
функциональный тест с широким выбором языков программирования;
автоматическая оптическая инспекция с распознаванием символов маркировки;
периферийное сканирование;
программирование запаянных на проверяемый модуль интегральных микросхем;
максимальное количество тест каналов: до 4096 аналоговых и 2048 цифровых;
контроль напряжения, тока, номиналов пассивных компонентов;
до 8 программируемых ИП;
измерение частоты до 10 МГц, периода до 100 нс, счетчик событий до 100 млн.;
тесты самоконтроля (BIST и BOST).
Документация
Скачивание файлов доступно только авторизованным пользователям