Проб-карта с широкой полосой пропускания с иглами кантилеверного типа предназначена для проведения высокоскоростных параметрических тестов: тестирование флэш-памяти, памяти с произвольным доступом, импульсных вольтамперных характеристик и др. Возможно проведение измерений при температуре окружающей среды до 200 °С. Малошумящее полностью экранированное основание позволяет получать S-параметры с высокой точностью и хорошее соотношение сигнал/шум.
Технические характеристики:
материал игл: ReW, платиновый сплав;
частоты: DC — 6 ГГц;
сопротивление изоляции: до 100 Том;
шумовой ток: не более 0,1 нА;
паразитная ёмкость: не более 100 фФ;
максимальный ток: до 2 А;
максимальное напряжение: до 2 кВ;
минимальный размер контактных площадок: 35 мкм2;
минимальное расстояние между контактными площадками: 50 мкм;