Проб-карта предназначена для проведения измерений специализированных изделий (MEMs, CIS-устройства). Генерирует минимальное количество частиц, что позволяет проводить тестирование непосредственно в процессе производства. Специальные соединители обеспечивают низкие утечки и высокотемпературные измерения.