В конце 2022 года специалисты «Остек-Электро» закончили оснащение в Российском Технологическом Университете МИРЭА первого в России учебного класса, где студенты будут обучаться навыкам автоматизированного тестирования помехоэмиссии и помехоустойчивости печатных плат (PCB) и микросхем (IC) на этапе разработки.
Были поставлено следующее оборудование:
- Сканер внутрисхемного ЭМС печатных плат 3-осевой.
- 4-координатная система позиционирования для контроля ЭМС-микросхем.
- Комплект для измерений ЭМС-характеристик интегральных микросхем.
- Наборы для тестирования устойчивости плат к электрическому и магнитному полю.
- Различные наборы пробников ближнего поля.
- Наборы для тестирования помехоэмиссии печатных плат.
- Набор для испытаний на устойчивость оборудования к высокочастотным кондуктивным помехам.
Рабочие места предназначены для проведения испытаний на ЭМС как при разработке новых радиоэлектронных устройств и микросхем, так и для усовершенствования уже существующих РЭУ. Такие испытания проводятся для локализации проблем в области ЭМС в микросхемах и печатных платах и определения путей их решения. То есть РЭУ проходит проверку на ЭМС не на этапе готового изделия, а на этапе разработки его отдельных узлов и компонентов. Это позволяет выявлять источники помех и неустойчивые к воздействию помех места. Устранив данные недоработки, можно исключить схемотехнический «просчет» при разработке готового изделия для прохождения им успешных испытаний на ЭМС.
Очень важно понимать необходимость этих испытаний и уметь их проводить!