Технология, разработанная и запатентованная компанией Siemens, позволяет:
Вместо физического контроля технологических дефектов (короткие замыкания, непропаи) и выполнения параметрических тестов для каждого компонента SPEA NZT проверяет соответствие каждой отдельной цепи предполагаемым параметрам. При обнаружении проблемы в цепи система автоматически выполняет параметрический контроль компонентов, связанных с данной цепью, для поиска дефекта, вызвавшего изменение в параметрах цепи.
Феномен значительного сокращения времени тестирования по сравнению с выполнением традиционного внутрисхемного контроля, применяемого на системах с летающими пробниками прошлого поколения, основан на достаточности выполнения только одного контакта с цепью. В этот момент для всех связанных с данной цепью компонентов одновременно будут выполнены вычисления со скоростью до 50 измерений в секунду. Программу внутрисхемного контроля можно оптимизировать путем исключения всех тестов, которые будут выполнены с применением NZT без потери полноты тестового покрытия. Результатом оптимизации является существенное сокращения числа перемещений пробников и количества прямых измерений компонентов, выявленных из-за несоответствия значений комплексного сопротивления цепи.
Кроме того, технология NZT позволяет выявлять скрытые дефекты, не определяемые внутрисхемным контролем, например, в цепях ввода/вывода интегральных микросхем (внутренний дефект) или появление паразитных импедансов в микросхемах.
Дефект | NZT | С использованием других технологий |
---|---|---|
Короткое замыкание между соседними точками | Да | Тесты на короткие замыкания для летающих пробников |
Короткие замыкания между удаленными точками | Да | Потенциально с помощью функционального тестирования |
Ошибка значения параметра компонента | Да | Внутрисхемный контроль |
Непропай | Да | Open Pin Scan |
Ошибки на I/O stages | Да | Динамические цифровые тестовые последовательности, функциональный контроль |
Паразитные импедансы impedance (деградация IC) | Да | Нет аналогов |
Утечки на печатной плате | Да | Нет аналогов |