ООО «Остек-Электро»
Молдавская ул., д. 5, стр. 2, Москва, Россия, 121467
Тел.: +7 (495) 788-44-44, факс: +7 (495) 788-44-42,
www.ostec-group.ru, info@ostec-group.ru
ИНН 7731483966, КПП 773101001, ОГРН 5147746324754,
ОКПО 17184889
Группа Остек +7 495 788-44-44

Максимальная точность измерений. NZ Test – метод узловых импедансов

nzt.jpg

Технология, разработанная и запатентованная компанией Siemens, позволяет:

  • до 80% сократить время тестирования без потери тестового покрытия;
  • обеспечить до включения изделия 100% обнаружение коротких замыканий цепей, в т.ч. не имеющих физического доступа;
  • выявить деградацию компонентов, поврежденных статикой и имеющих утечки;
  • измерить ёмкость с точностью 0.1 пФ.
  • провести входной контроль сложных компонентов до пайки;
  • выявить сложные технологические дефекты и дефекты компонентов;
  • прогнозировать срок жизни изделия и предупреждать дефекты.

Возможные варианты комплектаций

Вместо физического контроля технологических дефектов (короткие замыкания, непропаи) и выполнения параметрических тестов для каждого компонента SPEA NZT проверяет соответствие каждой отдельной цепи предполагаемым параметрам. При обнаружении проблемы в цепи система автоматически выполняет параметрический контроль компонентов, связанных с данной цепью, для поиска дефекта, вызвавшего изменение в параметрах цепи.

Феномен значительного сокращения времени тестирования по сравнению с выполнением традиционного внутрисхемного контроля, применяемого на системах с летающими пробниками прошлого поколения, основан на достаточности выполнения только одного контакта с цепью. В этот момент для всех связанных с данной цепью компонентов одновременно будут выполнены вычисления со скоростью до 50 измерений в секунду. Программу внутрисхемного контроля можно оптимизировать путем исключения всех тестов, которые будут выполнены с применением NZT без потери полноты тестового покрытия. Результатом оптимизации является существенное сокращения числа перемещений пробников и количества прямых измерений компонентов, выявленных из-за несоответствия значений комплексного сопротивления цепи.

Кроме того, технология NZT позволяет выявлять скрытые дефекты, не определяемые внутрисхемным контролем, например, в цепях ввода/вывода интегральных микросхем (внутренний дефект) или появление паразитных импедансов в микросхемах.

Типы дефектов, которые могут быть обнаружены с применением технологии NZT

Дефект NZT С использованием других технологий
Короткое замыкание между соседними точками Да Тесты на короткие замыкания для летающих пробников
Короткие замыкания между удаленными точками Да Потенциально с помощью функционального тестирования
Ошибка значения параметра компонента Да Внутрисхемный контроль
Непропай Да Open Pin Scan
Ошибки на I/O stages Да Динамические цифровые тестовые последовательности, функциональный контроль
Паразитные импедансы impedance (деградация IC) Да Нет аналогов
Утечки на печатной плате Да Нет аналогов