ООО «Остек-Электро»
Молдавская ул., д. 5, стр. 2, Москва, Россия, 121467
Тел.: +7 (495) 788-44-44, факс: +7 (495) 788-44-42,
www.ostec-group.ru, info@ostec-group.ru
ИНН 7731483966, КПП 773101001, ОГРН 5147746324754,
ОКПО 17184889
Группа Остек +7 495 788-44-44

Проверка до кристалла. Емкостной датчик (Open Pin)

open-pin.jpg

Технология включает в себя две методики тестирования:

  • Junction Scan — определение отсутствия паяного соединения по защитным диодам в микросхемах.
  • Electro Scan — определение отсутствия паяного соединения по наведенному сигналу.

Используя две разные методики тестирования, на плате удается обнаружить такие технологические дефекты, как:

  • не припаянный вывод компонента;
  • неправильную полярность компонента;
  • повреждение проволочного соединения между выводом и кристаллом;
  • наличие паразитной емкости конденсатора.

Совместное использование этих методик позволяет эффективно диагностировать технологические дефекты вне зависимости от конструктивных особенностей печатного узла.

op.jpg