Система измерения фликкер-шума (1/f шума) 9812DX

• Проведение измерений низкочастотного шума (фликкер-шума, 1/f-шум) МОП-транзисторов (включая FinFET, КНИ-структуры), биполярныйх транзисторов, диодов, резисторов различного номинала, интегральных схем и других аналоговых и цифровых электронных компонентов.
• Максимальное выходное напряжение 200 В и минимальный измеряемый ток 0,1 нА, позволяющие использовать систему для самых разных применений, в том числе для измерения шума темнового тока фотодиода.
• Тестирование как низкоомных (10 Ом), так и высокоомных устройств (10 МОм).
• Оценка надежности изделия неразрущающим методом на основании полученных данных о фликкер-шуме.
• Экспресс-проверка на наличие скрытых деффектов перед электротермотренировкой или энергоциклированием.

Основные технические характеристики:

• шум МШУ по напряжению: <0,03 Гц — 10 МГц, 0,65 нВ/√Гц на 5 кГц;
• шум МШУ по току: <0,03 Гц — 1 МГц, 0,7 пА/√Гц на 5 кГц;
• разрешение системы по спектральной плотности шума: <1*10^-27 А²/Гц;
• максимальные напряжение и ток: 100 В, 100 мА (опционально 200 В, 200 мА);
• среднее время измерения одного устройства: 10 сек на развертку по частоте;
• встроенная ESD-защита
• встроенные 16-битные ЦАП и АЦП, GPIB-разъем;
• диапазон согласования по сопротивлению: от 10 Ом до 10 МОм;
• измерение телеграфного шума.