ПОИСК ПО САЙТУ
Каталог товаров
Собственные разработки
Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
Контрольно-измерительные приборы (КИП)
Фильтр
Рабочее место контроля цифровых микросхем на базе средств периферийного сканирования
Рабочее место контроля цифровых микросхем на основе технологии периферийного сканирования используется на участках входного контроля или после таких технологических операций как реболлинг.
Характеристики
Рабочее место контроля цифровых микросхем на базе установок с летающими пробниками SPEA
Все установки с летающими пробниками серии SPEA40xx можно оснастить технологией измерения узловых импедансов (NZT), позволяющей с высокой скоростью, точностью и повторяемостью (недоступной даже для стационарных измерительных приборов) проводить по каждому выводу микросхемы измерения значения ёмкости, входного сопротивления, падения напряжения на защитных диодах. Измеренные величины будут уникальными для данного производителя, а их повторяемость, в рамках партии, будет характеризовать ее однородность.
Характеристики