Заказать звонок +7 495 788-44-44
Меню
  • Предприятие
    • О предприятии
    • Пресс-центр
    • Карьера
    • Сертификаты
    • Реквизиты
  • Каталог оборудования
    • Собственные разработки
    • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
    • Контрольно-измерительные приборы (КИП)
    • Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
    • Решения для производств компонентов микроэлектроники
    • Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
    • Подготовка к производству, оснастка
    • Средства автоматизированного программирования
    • Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
    • Производители
    • Тестовые системы с летающими пробниками
    • Тестовые системы адаптерного типа
    • Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
    • Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
    • Адаптеры и тестовые пробники INGUN
    • Анализаторы мощности
    • Анализаторы цепей
    • Анализаторы фликкер-шума
    • Анализаторы спектра
    • Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
    • Аудиоанализаторы
    • Векторные генераторы сигналов
    • Генераторы специальные
    • Датчики и измерители мощности
    • Измерители фазовых шумов
    • Измерители RLC
    • Источники-измерители
    • Источники питания
    • Логические анализаторы
    • Модульные системы
    • Осциллографы
    • Параметрические анализаторы
    • Пробники и аксессуары
    • Программное обеспечение
    • Прочие принадлежности
    • Тестеры коэффициента битовых ошибок
    • Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
    • Характериографы
    • Частотомеры
    • Цифровые мультиметры
    • Кабельные тестеры Sefelec
    • Мобильные тестовые системы
    • Магнитные измерения
    • Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
    • Тестеры электродвигателей SCHLEICH
    • Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
    • Микроманипуляторы Imina
    • Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
    • Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
    • Манипуляторы компонентов SPEA
    • Установки электротермотренировки SynergieCAD
    • Зондовые станции (Probe Stations)
    • Безэховые экранированные камеры для защиты информации
    • Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
    • Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
    • Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
    • Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
    • Радиопоглощающие материалы
    • Поворотные платформы и антенные мачты
    • Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
    • Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
    • Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
    • Измерительные приемники ЭМП
    • GTEM-камеры
    • Реверберационные камеры для ЭМС
    • Электроакустические измерительные приборы
    • Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
    • Системы экранированного видеонаблюдения
    • Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
    • Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
    • Средства внутрисхемного программирования SMH
    • Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
    • Рабочее место контроля пассивных компонентов
    • Рабочее место контроля проводов
    • Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
    • Рабочее место контроля реле
    • Рабочее место контроля цифровых микросхем
    • Рабочее место визуального контроля
    • Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
  • Собственные разработки
  • База знаний
    • Статьи и публикации
    • Каталоги и брошюры
    • Глоссарий
    • Задать вопрос
    • Видео
  • Контакты
  • Клиентам
    • Личные данные
    • Ваше оборудование
    • Заявки на сервис
    • Анкеты
    • Задать вопрос
    • Лист запросов
    • Подписка
Войти
ПОИСК ПО САЙТУ
Каталог товаров Собственные разработки Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки) Контрольно-измерительные приборы (КИП)
 
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели) Решения для производств компонентов микроэлектроники Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
 
Подготовка к производству, оснастка Средства автоматизированного программирования Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Направление О предприятии Пресс-центр Карьера Сертификаты Реквизиты Собственные разработки База знаний Статьи и публикации Каталоги и брошюры Глоссарий Задать вопрос Видео
Клиентам Личные данные Ваше оборудование Заявки на сервис Анкеты Задать вопрос Лист запросов Подписка
Контакты
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
  • Направление
    • О предприятии
      • Карьера
      • Партнеры
      • Сертификаты
      • Политика конфиденциальности
    • Пресс-центр
      • Новости
      • Календарь событий
    • Карьера
    • Сертификаты
    • Реквизиты
  • Каталог оборудования
    • Собственные разработки
    • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
      • Тестовые системы с летающими пробниками
      • Тестовые системы адаптерного типа
      • Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
      • Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
      • Адаптеры и тестовые пробники INGUN
    • Контрольно-измерительные приборы (КИП)
      • Анализаторы мощности
      • Анализаторы цепей
      • Анализаторы фликкер-шума
      • Анализаторы спектра
      • Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
      • Аудиоанализаторы
      • Векторные генераторы сигналов
      • Генераторы специальные
      • Датчики и измерители мощности
      • Измерители фазовых шумов
      • Измерители RLC
      • Источники-измерители
      • Источники питания
      • Логические анализаторы
      • Модульные системы
      • Осциллографы
      • Параметрические анализаторы
      • Пробники и аксессуары
      • Программное обеспечение
      • Прочие принадлежности
      • Тестеры коэффициента битовых ошибок
      • Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
      • Характериографы
      • Частотомеры
      • Цифровые мультиметры
    • Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
      • Кабельные тестеры Sefelec
      • Мобильные тестовые системы
      • Магнитные измерения
      • Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
      • Тестеры электродвигателей SCHLEICH
      • Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
    • Решения для производств компонентов микроэлектроники
      • Микроманипуляторы Imina
      • Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
      • Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
      • Манипуляторы компонентов SPEA
      • Установки электротермотренировки SynergieCAD
      • Зондовые станции (Probe Stations)
    • Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
      • Безэховые экранированные камеры для защиты информации
      • Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
      • Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
      • Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
      • Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
      • Радиопоглощающие материалы
      • Поворотные платформы и антенные мачты
      • Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
      • Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
      • Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
      • Измерительные приемники ЭМП
      • GTEM-камеры
      • Реверберационные камеры для ЭМС
      • Электроакустические измерительные приборы
      • Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
      • Системы экранированного видеонаблюдения
      • Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
    • Подготовка к производству, оснастка
      • Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
      • Средства внутрисхемного программирования SMH
      • Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
    • Средства автоматизированного программирования
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
    • Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
      • Рабочее место контроля пассивных компонентов
      • Рабочее место контроля проводов
      • Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
      • Рабочее место контроля реле
      • Рабочее место контроля цифровых микросхем
      • Рабочее место визуального контроля
      • Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
    • Производители
  • Собственные разработки
  • База знаний
    • Статьи и публикации
    • Каталоги и брошюры
    • Глоссарий
    • Задать вопрос
    • Видео
  • Клиентам
    • Личные данные
    • Ваше оборудование
    • Заявки на сервис
    • Анкеты
    • Задать вопрос
    • Лист запросов
    • Подписка
  • Контакты
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
  • Главная страница
  • Каталог оборудования
  • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)

Автоматическая система с подвижным пробником для поиска неисправных компонентов EyePoint P10

ООО «Остек-Электро»
Молдавская ул., д. 5, стр. 2, Москва, Россия, 121467
Тел.: +7 (495) 788-44-44, факс: +7 (495) 788-44-42,
www.ostec-group.ru, info@ostec-group.ru
ИНН 7731483966, КПП 773101001, ОГРН 5147746324754,
ОКПО 17184889
Автоматическая система с подвижным пробником для поиска неисправных компонентов EyePoint P10 Автоматическая система с подвижным пробником для поиска неисправных компонентов EyePoint P10 Автоматическая система с подвижным пробником для поиска неисправных компонентов EyePoint P10 Примеры результатов исследования четырех различных контактных площадок электронных компонентов
Добавить в лист запросов запросить в один клик Заказать звонок
Печать/PDF
  • Описание
  • Технические характеристики

EyePoint Р10 — настольная тестовая система с подвижным пробником, которая в автоматическом режиме снимает вольт-амперные характеристики элементов на плате.

Анализ платы проходит с минимальным участием оператора. При этом системе не нужна предварительная информация о плате, что делает ее практически незаменимым тестовым решением при ремонте печатных узлов. Высокая скорость тестирования позволяет в минимальные сроки определить неисправные компоненты на плате.

Преимущества EyePoint

  • Компактная настольная недорогая система.
  • Не требуется документации на исследуемые платы.
  • Не требуется предварительное обучение.
  • Точная диагностика в автоматическом режиме.
  • Мощное и простое программное обеспечение.
  • Минимальное участие человека.
  • Отображение работы в ПО в реальном времени.
  • Тестирование без подачи электропитания на плату.

Тестирование печатных плат

Для поиска неисправностей на плате необходимо иметь:

  1. Эталонную плату.
  2. Плату с дефектами.
  3. Тестовую систему EyePoint P10.

Процесс тестирования состоит из трех этапов:

  1. Снятие сигнатур (вольт-амперных характеристик) с каждого вывода компонента по эталонной плате.
  2. Снятие сигнатур с платы с дефектами.
  3. Анализ полученных расхождений и замена неисправного компонента на дефектной плате.

Сигнатурный анализ печатной платы

В EyePoint P10 используется метод исследования вольт-амперных характеристик, позволяющий проверять цепи на плате без подачи питания. Это эффективный и быстрый способ поиска неисправностей путем сравнения сигнатур неисправной цепи платы и заведомо исправной. Метод позволяет быстро определять возможные повреждения, в том числе разрушение защитных диодов от статического электричества или повреждение выходных/входных транзисторов.

При помощи встроенного в блок пробника камеры и заложенных в прибор алгоритмов корреляционного анализа система автоматически определяет компоненты платы, тестирование которых возможно, помечает их контактные площадки. Далее выполняется тестирование, создается список компонентов и их сигнатур, проводится сравнение с опорными данными, и пользователь получает перечень неисправных и/или «подозрительных» электронных компонентов.

  • Максимальный размер платы: 280×275 мм.
  • Поддержка корпусов: LQFP, SOIC, SMD, SOT, DIP и т. д.
  • Построение карты тестирования: до 15 см²/мин.
  • Скорость тестирования: 100 точек в мин.
  • Точность установки щупа: 30 мкм.
  • Время на смену платы: 30 сек.
  • Тестирующее напряжение: до +/- 12 В.
  • Чувствительность по R: 2 Ом — 450 кОм.
  • Чувствительность по C: 300 пФ — 100 мкФ.
  • Чувствительность по L: от 270 мкГн.
  • Габариты и вес: 604×543×473 мм, 50 кг.
  • Управляющий ПК: Intel i5 2,8 ГГц, 16 Гб RAM, 256 Гб SSD.
  • Электропитание: ~220 В, 50 Гц, 300 Вт.

Запросить в один клик

Ваше имя
Телефон
E-mail
Город
Организация
Текст вопроса


Текст с картинки
Заказать звонок
Ваше имя
Телефон
E-mail
Текст вопроса
*

Заполните форму

Организация
Фамилия
Имя
Отчество
Должность
E-mail
Телефон
Город
Укажите желаемую дату посещения
CAPTCHA
Текст с картинки

Запрос оборудования на тестирование

Ваше имя
Телефон
E-mail
Город
Организация
Текст сообщения


Текст с картинки

1Лист запросов
× Автоматическая система с подвижным пробником для поиска неисправных компонентов EyePoint P10
В лист запросов →
© 2020 ООО «Остек-Электро»
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
Свяжитесь с нами
© 2020 ООО «Остек-Электро»
Ваша заявка принята. Спасибо
Заявка успешно отправлена.

Менеджер свяжется с вами в ближайшее время

Ошибка соединения.