определение 32-битногоID-кода микросхемы, включающего: код производителя, тип микросхемы, версию ревизии кристалла;
проверка регистра команд, длина и содержимое которого варьируется от микросхемы к микросхеме;
проверка уникального идентификационного номера отдельной микросхемы (ECID). Возможность закреплена в новой версии IEEE 1149.1 от 2013 года;
проверка длины регистра периферийного сканирования. Параметр у каждой ИМС уникален и зависит от числа выводов, их направленности и т. д.
тест разварки выводов кристалла на обрывы и КЗ. У контрафактных и некачественных микросхем такие дефекты проявляются довольно часто;
автоматический тест большой номенклатуры цифровых компонентов, не поддерживающих периферийное сканирование, за счет готовых встроенных функциональных библиотек. Например, для микросхем flash-памяти можно проверять ID-код производителя, отсутствие уже записанных данных, объем.