Комплект тестирования «ЭЛЬБРУС-ТЕСТ»

Семейство микросхем Эльбрус разработано в АО «МЦСТ» с учетом высокой технологичности будущих изделий. В процессоры и КПИ (контроллеры периферийных интерфейсов) уже встроены инструменты для высокоточной диагностики собранных плат с целью построения бездефектного производства. Комплект тестирования «ЭЛЬБРУС-ТЕСТ» задействует эти встроенные инструменты и позволяет на изделиях с использованием наборов микросхем Эльбрус точно диагностировать и локализовать следующие виды дефектов:

• Связи процессоров и КПИ;
• Связи слотов памяти DIMM с процессорами;
• Связи микросхем ОЗУ (в случае напаиваемого варианта микросхем памяти) с процессорами;
• Связи процессоров и КПИ с их периферийными устройствами, такими как флэш, различные интерфейсные микросхемы и т.д.

Поддержка устройств на базе следующих микросхем:

• 1991ВГ1Я (КПИ)
• 1891ВМ018 (R2000)
• 1891ВМ12Я (Эльбрус 8СВ)
• 1891ВМ028 (Эльбрус 8С)
• 1891ВМ11Я (Эльбрус 1С+)
• 1991ВГ2Я (КПИ-2)
• 1891ВМ6Я (R1000)
• 1891ВМ8Я (Эльбрус-4С)

Произведите и отгрузите клиентам любое количество собранных печатных узлов на базе комплектов микросхем «Эльбрус» со 100% гарантией работоспособности!

Для производителей электроники не секрет, что отсутствие хороших диагностических средств контроля собранных печатных узлов влечет за собой нежелательные задержки отгрузки изделий, финансовые и репутационные потери компании.

К сожалению, функциональный контроль изделий после сборки в большинстве случаев не даёт локализацию непропаянных выводов микросхем и разъемов, коротких замыканий, некорректно установленных SMD-компонентов и прочих производственных дефектов. И ситуация только усугубляется, когда компания выходит на совершенно новый уровень компетентности: например, начинается производство компьютерной техники, серверов, систем хранения данных и т.п. Здесь ставки уже слишком высоки: процессоры, платы и другие комплектующие крайне дороги, а запускать дополнительные партии, чтобы однозначно выполнить объем заказа для клиента, совсем не хочется.

Вручную был поставлен дефект на параллельном слоте 5 (А0_Х6). В тесте бегущей единицы дефект найдет:

Диагностика показывает точную точку дефекта:

Диагностика была бы 100%, если бы все слоты были заняты DIMM-DIOS-модулями.

Применяя комплект «ЭЛЬБРУС-ТЕСТ», вы соберете, протестируете и отгрузите в срок любое количество вычислительной техники, построенной на базе микросхем разработки АО «МЦСТ». Вам не нужно будет запускать дополнительные серии (и закупать комплектующие), привлекать дорогостоящих разработчиков плат для поиска причин неисправности или искать рентгеновскую установку.