Тестирующая станция серии GS

Полнофункциональные инженерные системы для тестирования плат и систем, программирования флэш и ПЛИС.

• ​Возможность генерации и исполнения всех возможных приложений периферийного сканирования, основанных на стандартах JTAG: IEEE 1149.1, IEEE 1149.6 и IEEE 1532.
• Архивация проектов, включая тестовые последовательности для производства.
• Выполнение любых приложений, использующих периферийное сканирование.
• Производительность аппаратных средств имеет несколько уровней, в зависимости от требований.
• Диагностика дефектов на уровне выводов компонентов.
• Первый год технической поддержки включен в стоимость.

JTAG-станции серии GS оснащены контроллерами периферийного сканирования JT 37xx или JT57xx. Каждая станция имеет удобный программный интерфейс, позволяющий разработчику производить создание тестов, отладку,архивацию и выполнение на тестируемом устройстве со следующей диагностикой неисправностей. Станции GS позволяют работать с платами и блоками любой сложности, начиная от одной платы с одним каналом сканирования, заканчивая системами, состоящими из множества плат с мультиплексированными JTAG-каналами. Существуют три варианта станций: GS1,GS2 и GS3, которые различаются возможностями и производительностью:

• GS1. Для разработки и выполнения тестов,использующих периферийное сканирование, включая тест инфраструктуры, межсоединений, памяти,логики и резисторов.
• GS2. Для разработки и выполнения тестов,использующих периферийное сканирование, а также приложений для программирования флэш на тестируемой плате.
• GS3. Для всех применений периферийного сканирования, включая тестирование плат,внутрисистемное программирование ПЛИС и устройств флэш-памяти.