Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат

Предусилитель PA 306 используется для усиления слабых сигналов измерения, например, от датчиков ближнего поля. Он отличается низким уровнем шума и постоянно высоким динамическим диапазоном в широком диапазоне частот.

Предусилитель PA 303 используется для усиления слабых сигналов измерения от датчиков ближнего поля. Вход и выход предусилителя реализованы 50‑Омным BNC-разъемом (PA 303 BNC), SMA-разъемом (PA 303 SMA) или N‑разъемом (PA 303 N).

Предусилитель PA 203 используется для усиления слабых сигналов измерения от датчиков ближнего поля. Вход и выход предусилителя реализованы 50‑Омным BNC-разъемом (PA 203 BNC) или SMA-разъемом (PA 203 SMA).

Предусилитель PA 3010 используется для усиления слабых сигналов измерения, например, от датчиков ближнего поля. Он отличается низким уровнем шума и постоянно высоким динамическим диапазоном в широком диапазоне частот.

S603 / S750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех на сигнальных дорожках и контактах Vdd / Vss микросхемы во время ее функционирования.

P1602 /P1702 set — набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать тип и уровень излучения помех в диапазоне частот до 3 ГГЦ в ближнем поле от микросхемы во время ее функционирования. Программное обеспечение ChipScan-ESA проводит расчет и анализ полученных результатов и отображает их в виде графиков и таблиц.

P1601 /P1702 set — набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать тип и уровень излучения помех в диапазоне частот до 1 ГГЦ в ближнем поле от микросхемы во время ее функционирования. Программное обеспечение ChipScan-ESA проводит расчет и анализ полученных результатов и отображает их в виде графиков и таблиц.

P1401 / P1501 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к излучаемым электрическим и магнитным полям от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства наводить на микросхему во время ее функционирования электромагнитные поля, определяя уровень устойчивости к ним. Для проведения испытаний с помощью данного набора необходимы генератор сигналов и усилитель мощности.

P1202-4/P1302-4 set — набор для проверки интегральных микросхем на устойчивость к наносекундным импульсным помехам на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. В набор входят источники электрических и магнитных полей, излучающие помехи на интегральные микросхемы. Инженер-разработчик может использовать этот набор непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства проверять его помехоустойчивость к электрически быстрым переходным процессам (пачкам) по ГОСТ IEC 61000-4-4-2016.

P1202-2 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандарту ГОСТ 30804.4.2-2013 («Устойчивость к электростатическим разрядам») контактным разрядом связью по магнитному полю. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования электростатический разряд, определяя уровень устойчивости к нему.

P603-1 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех от каждой ножки микросхемы во время ее функционирования.

P603 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех от каждой ножки микросхемы во время ее функционирования.

P600 / P750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, учитывать уровень наводимых кондуктивных помех на сигнальных дорожках и контактах Vdd / Vss микросхемы во время ее функционирования.

P503 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.

P501 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.

P500 set — набор для определения устойчивости интегральных микросхем (ИС) к кондуктивным помехам, когда электромагнитная мощность высокой частоты инжектируется в конкретный вывод ИС, от компании Langer EMV-Technik.

P331-2 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандарту ГОСТ 30804.4.2-2013 («Устойчивость к электростатическим разрядам») контактным разрядом либо с использованием модели тела человека. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования электростатический разряд, определяя уровень устойчивости к нему.

P331 L-ESD set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандарту ГОСТ 30804.4.2-2013 («Устойчивость к электростатическим разрядам») контактным разрядом, однако параметры импульса ЭСР 0,2/5 нс. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования электростатический разряд, определяя уровень устойчивости к нему.

P250 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к импульсным помехам от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандартам ГОСТ 30804.4.4 «Устойчивость к наносекундным импульсным помехам» и МЭК 62215-3 «Несинхронный быстрый метод введения импульсных помех». Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования кондуктивные помехи, определяя уровень устойчивости к ним. Наличие модулей конденсаторов различной емкости позволяет регулировать параметры испытательных импульсов.

P202/P302 L-EFT set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к помехам, вызванным электростатическими разрядами и наносекундными импульсными помехами от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, наводить на отдельные ножки микросхемы во время ее функционирования кондуктивные помехи, определяя уровень устойчивости к ним. Использование инжекторов импульсных помех совместно с системой позиционирования ICT 1 позволяет проводить испытания в автоматическом режиме.

ICE1 set— комплект для измерений ЭМС-характеристик интегральных микросхем (ИС) во время предварительных испытаний на устойчивость к излучаемым и кондуктивным помехам на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, локализовывать и дифференцировать неустойчивые области и компоненты микросхемы во время ее функционирования.

Генератор импульсных помех SGZ 21 — это прибор для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Прибор имитирует электростатический разряд (ГОСТ 30804.4.2) и импульсные помехи по стандартам ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5, позволяющий инжектировать ток в выбранные области (компоненты, контактные дорожки) испытуемого оборудования. Инжекция осуществляется вручную с помощью источников электрического и магнитного полей, подключаемых к генератору помех. Также генератор имеет оптический вход для измерения сигналов от испытуемых печатных плат.

Оптический датчик S21 — это цифровой датчик от компании Langer EMV-Technik для проведения испытаний на помехоустойчивость печатных по плат по методикам стандартов ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5. Датчик подключают к испытуемой плате, которая питает его. В датчике цифровой сигнал управления платой преобразуется в оптический сигнал и по оптоволоконному кабелю передается на измерительный приемник или на осциллограф, позволяя контролировать явления, возникающие при воздействии помех на плату. Оптический кабель не вносит дополнительных помех при проведении испытаний.

Пробник магнитного поля MS 02 — это прибор для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Прибор предназначен для измерения переменных магнитных полей внутри испытуемого устройства, определяя каналы прохождения наведенных помех.

E1 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатной платы. В состав системы входит генератор, имитирующий электростатический разряд (ГОСТ 30804.4.2) и импульсные помехи по стандартам ГОСТ 30804.4.4 / ГОСТ Р 51317.4.5, позволяющий инжектировать ток помехи в выбранные области (компоненты, контактные дорожки) испытуемого оборудования. Инжекция осуществляется вручную с помощью источников электрического и магнитного полей, подключаемых к генератору помех. На концах источников поля генерируются направленные силовые линии. Как только поле достигает помехонеустойчивого компонента, сразу начинают проявляться функциональные неисправности. Форма и размеры источников выбираются исходя из видов и размеров исследуемых объектов, типа поля помехи.

Оптический датчик AS 350 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический датчик AS 300 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический датчик AS 200 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический датчик AS 120 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический датчик AS 110 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический датчик AS 100 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот датчик непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический приемник AE 300 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот приемник непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический приемник AE 200 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот приемник непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

Оптический приемник AE100 — это устройство для испытаний на помехоустойчивость печатных плат и микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может вручную использовать этот приемник непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты.

A300-2 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

A300-1 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

A200-2 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализировать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

A200-1 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.

A100-2 set — комплект для испытаний на помехоустойчивость печатных плат на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, выявлять и локализовывать неустойчивые к воздействию помех области и компоненты печатных плат и микросхем.