Статьи и публикации группы компаний Остек

ВСЕ Качество Оптимизация Перспективы Технологии Техподдержка

Измерение электрических характеристик при внешнем воздействии. Есть ли смысл в метрологии?

Автор и должность:

Антон Шейхо, заместитель генерального директора по производству

Рубрика:

Технологии

PDF

Зондовые измерения в широком температурном диапазоне

Автор и должность:

Роман Розанов, старший инженер

Рубрика:

Технологии

PDF

Исследование электрохимических сенсоров на подложке

Рубрика:

Технологии

PDF

Новые возможности технологии комбинирования поля в активных антенных решетках для испытаний на восприимчивость к электромагнитному полю

Автор и должность:

Дмитрий Кондрашов, Алексей Шостак, Патрик Дейкстра

Рубрика:

Технологии

PDF

Бывают ли осциллографы для электромагнитного поля?

Автор и должность:

Алексей Шостак, Дмитрий Кондрашов, Эйке Сутау, Маттиас Крейтлоу

Рубрика:

Технологии

PDF

Комплексные решения для проведения зондовых измерений. Особенности измерений на полупроводниковой пластине

Автор и должность:

Игорь Васильев, ведущий специалист

Рубрика:

Технологии

PDF

Метрология и высокие технологии

Автор и должность:

Александр Лисогор, начальник группы

Рубрика:

Технологии

PDF

Зачем нужно менять устоявшиеся подходы к тестированию на ЭМС?

Автор и должность:

Дмитрий Кондрашов, начальник группы

Рубрика:

Технологии

PDF

Испытания без помех. Безэховые камеры – новые возможности для российской промышленности

Автор и должность:

Дмитрий Кондрашов, начальник группы

Рубрика:

Технологии

PDF

Использование JTAG-тестирования и программирования на производстве. Часть 1

Автор и должность:

Алексей Иванов

Рубрика:

Технологии

PDF