Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат

Предусилитель PA 2522 до 22 ГГц

Предусилитель PA 2522 предназначен для усиления слабых сигналов измерения, например, от пробников ближнего поля. Отличается низким уровнем шума и постоянно высоким динамическим диапазоном в широком диапазоне частот.

Характеристики

Детектор импульсов магнитного поля BD 11

Характеристики

Мини-генератор импульсного поля (E) P23 set

Характеристики

Комплект демонстрационных плат DB 20 set

Характеристики

Предусилитель PA 306 до 6 ГГц

Предусилитель PA 306 используется для усиления слабых сигналов измерения, например, от датчиков ближнего поля. Он отличается низким уровнем шума и постоянно высоким динамическим диапазоном в широком диапазоне частот.

Характеристики

Предусилитель PA 303 до 3 ГГц

Предусилитель PA 303 используется для усиления слабых сигналов измерения от датчиков ближнего поля. Вход и выход предусилителя реализованы 50‑Омным BNC-разъемом (PA 303 BNC), SMA-разъемом (PA 303 SMA) или N‑разъемом (PA 303 N).

Характеристики

Предусилитель PA 203 до 3 ГГц

Предусилитель PA 203 используется для усиления слабых сигналов измерения от датчиков ближнего поля. Вход и выход предусилителя реализованы 50‑Омным BNC-разъемом (PA 203 BNC) или SMA-разъемом (PA 203 SMA).

Характеристики

Пассивный датчик магнитного поля SX-R 20-1

Характеристики

Предусилитель PA 3010 до 10 ГГц

Предусилитель PA 3010 используется для усиления слабых сигналов измерения, например, от датчиков ближнего поля. Он отличается низким уровнем шума и постоянно высоким динамическим диапазоном в широком диапазоне частот.

Характеристики

Пассивный датчик ближнего поля HR-E 40-1

Характеристики

Набор аналого-оптического конвертера для автомобильных последовательных шин данных OB 100 Set

Характеристики

Набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем P1402 / P1502 set

Характеристики

Инжектор импульсов тока ICI I900 L-EFT

Характеристики

Инжектор импульсного магнитного поля ICI HH500-15 L-EFT

Характеристики

Инжектор импульсного электрического поля ICI E450 L-EFT

Характеристики

Набор инжекторов для ввода кратковременных импульсов (НИП) ICI 03 L-EFT

Характеристики

Набор инжекторов кратковременных импульсов (НИП) ICI 01 L-EFT

Характеристики

Сканер микросхем FLS 106 IC

Характеристики

Набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем S603 / S750 set

S603 / S750 set — набор для измерения излучаемых кондуктивных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания устройства, у...

Характеристики

Набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем P1602 /P1702 set

P1602 /P1702 set — набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания ус...

Характеристики

Набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем P1601 /P1702 set

P1601 /P1702 set — набор для измерения излучаемых электромагнитных помех от интегральных микросхем на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания ус...

Характеристики

Набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к излучаемым электрическим и магнитным полям P1401 / P1501 set

P1401 / P1501 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к излучаемым электрическим и магнитным полям от компании Langer EMV-Technik. Инженер-разработчик может использовать этот комплект непосредственно на своем рабочем месте и в процессе создания ус...

Характеристики

Набор для проверки интегральных микросхем на устойчивость к наносекундным импульсным помехам P1202-4/P1302-4 set

P1202-4/P1302-4 set — набор для проверки интегральных микросхем на устойчивость к наносекундным импульсным помехам на этапе разработки от компании Langer EMV-Technik. В набор входят источники электрических и магнитных полей, излучающие помехи на интегральные микросхемы...

Характеристики

Набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) P1202-2 set

P1202-2 set — набор для проверки на устойчивость интегральных микросхем к электростатическому разряду (ЭСР) от компании Langer EMV-Technik. Испытания проводятся согласно стандарту ГОСТ 30804.4.2-2013 («Устойчивость к электростатическим разрядам») контактным разрядом связью...

Характеристики