Заказать звонок +7 495 788-44-44
Меню
  • Предприятие
    • О предприятии
    • Пресс-центр
    • Карьера
    • Сертификаты
    • Реквизиты
  • Каталог оборудования
    • Собственные разработки
    • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
    • Контрольно-измерительные приборы (КИП)
    • Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
    • Решения для производств компонентов микроэлектроники
    • Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
    • Подготовка к производству, оснастка
    • Средства автоматизированного программирования
    • Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
    • Производители
    • Тестовые системы с летающими пробниками
    • Тестовые системы адаптерного типа
    • Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
    • Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
    • Адаптеры и тестовые пробники INGUN
    • Анализаторы мощности
    • Анализаторы цепей
    • Анализаторы фликкер-шума
    • Анализаторы спектра
    • Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
    • Аудиоанализаторы
    • Векторные генераторы сигналов
    • Генераторы специальные
    • Датчики и измерители мощности
    • Измерители фазовых шумов
    • Измерители RLC
    • Источники-измерители
    • Источники питания
    • Логические анализаторы
    • Модульные системы
    • Осциллографы
    • Параметрические анализаторы
    • Пробники и аксессуары
    • Программное обеспечение
    • Прочие принадлежности
    • Тестеры коэффициента битовых ошибок
    • Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
    • Характериографы
    • Частотомеры
    • Цифровые мультиметры
    • Кабельные тестеры Sefelec
    • Мобильные тестовые системы
    • Магнитные измерения
    • Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
    • Тестеры электродвигателей SCHLEICH
    • Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
    • Микроманипуляторы Imina
    • Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
    • Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
    • Манипуляторы компонентов SPEA
    • Установки электротермотренировки SynergieCAD
    • Зондовые станции (Probe Stations)
    • Безэховые экранированные камеры для защиты информации
    • Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
    • Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
    • Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
    • Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
    • Радиопоглощающие материалы
    • Поворотные платформы и антенные мачты
    • Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
    • Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
    • Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
    • Измерительные приемники ЭМП
    • GTEM-камеры
    • Реверберационные камеры для ЭМС
    • Электроакустические измерительные приборы
    • Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
    • Системы экранированного видеонаблюдения
    • Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
    • Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
    • Средства внутрисхемного программирования SMH
    • Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
    • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
    • Рабочее место контроля пассивных компонентов
    • Рабочее место контроля проводов
    • Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
    • Рабочее место контроля реле
    • Рабочее место контроля цифровых микросхем
    • Рабочее место визуального контроля
    • Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
  • Собственные разработки
  • База знаний
    • Статьи и публикации
    • Каталоги и брошюры
    • Глоссарий
    • Задать вопрос
    • Видео
  • Контакты
  • Клиентам
    • Личные данные
    • Ваше оборудование
    • Заявки на сервис
    • Анкеты
    • Задать вопрос
    • Лист запросов
    • Подписка
Войти
ПОИСК ПО САЙТУ
Каталог товаров Собственные разработки Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки) Контрольно-измерительные приборы (КИП)
 
Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели) Решения для производств компонентов микроэлектроники Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
 
Подготовка к производству, оснастка Средства автоматизированного программирования Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
Направление О предприятии Пресс-центр Карьера Сертификаты Реквизиты Собственные разработки База знаний Статьи и публикации Каталоги и брошюры Глоссарий Задать вопрос Видео
Клиентам Личные данные Ваше оборудование Заявки на сервис Анкеты Задать вопрос Лист запросов Подписка
Контакты
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
  • Направление
    • О предприятии
      • Карьера
      • Партнеры
      • Сертификаты
      • Политика конфиденциальности
    • Пресс-центр
      • Новости
      • Календарь событий
    • Карьера
    • Сертификаты
    • Реквизиты
  • Каталог оборудования
    • Собственные разработки
    • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
      • Тестовые системы с летающими пробниками
      • Тестовые системы адаптерного типа
      • Тестовые системы периферийного сканирования JTAG Technologies (граничного сканирования)
      • Функциональный контроль на базе National Instruments (платы, модули, сборки)
      • Адаптеры и тестовые пробники INGUN
    • Контрольно-измерительные приборы (КИП)
      • Анализаторы мощности
      • Анализаторы цепей
      • Анализаторы фликкер-шума
      • Анализаторы спектра
      • Аналоговые генераторы сигналов СВЧ
      • Аудиоанализаторы
      • Векторные генераторы сигналов
      • Генераторы специальные
      • Датчики и измерители мощности
      • Измерители фазовых шумов
      • Измерители RLC
      • Источники-измерители
      • Источники питания
      • Логические анализаторы
      • Модульные системы
      • Осциллографы
      • Параметрические анализаторы
      • Пробники и аксессуары
      • Программное обеспечение
      • Прочие принадлежности
      • Тестеры коэффициента битовых ошибок
      • Функциональные генераторы и генераторы сигналов произвольной формы
      • Характериографы
      • Частотомеры
      • Цифровые мультиметры
    • Решения для производств электротехнических изделий (кабели, жгуты, моточные изделия, двигатели)
      • Кабельные тестеры Sefelec
      • Мобильные тестовые системы
      • Магнитные измерения
      • Тестеры трансформаторов Voltech Instruments
      • Тестеры электродвигателей SCHLEICH
      • Пробойные установки и измерительные приборы Sefelec
    • Решения для производств компонентов микроэлектроники
      • Микроманипуляторы Imina
      • Установки электрического контроля полупроводниковых компонентов и пластин SPEA
      • Установки контроля смарт-карт и RFID компонентов SPEA
      • Манипуляторы компонентов SPEA
      • Установки электротермотренировки SynergieCAD
      • Зондовые станции (Probe Stations)
    • Безэховые акустические камеры, измерения параметров антенн и испытания на ЭМС
      • Безэховые экранированные камеры для защиты информации
      • Безэховые экранированные камеры для ЭМС и антенных измерений
      • Акустические безэховые (заглушенные) и реверберационные камеры
      • Оборудование для испытания ЭМС Raditeq (DARE!! INSTRUMENTS)
      • Пробники и автоматизированные системы для измерений внутрисхемного ЭМС микросхем и плат
      • Радиопоглощающие материалы
      • Поворотные платформы и антенные мачты
      • Антенны, генераторы поля и датчики поля для ЭМС
      • Широкополосные твердотельные и ЛБВ усилители
      • Оборудование для испытания ЭМС (кондуктивные помехи)
      • Измерительные приемники ЭМП
      • GTEM-камеры
      • Реверберационные камеры для ЭМС
      • Электроакустические измерительные приборы
      • Безэховые экранированные шкафы IGOS MN
      • Системы экранированного видеонаблюдения
      • Дополнительное оборудование и принадлежности для БЭК
    • Подготовка к производству, оснастка
      • Адаптеры, тестовые пробники, оснастка INGUN
      • Средства внутрисхемного программирования SMH
      • Дополнительные модули и средства JTAG Technologis
    • Средства автоматизированного программирования
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SMH Technologies
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования JTAG Technologies
      • Средства автоматизированного внутрисхемного программирования SPEA
    • Решения для входного контроля элементной базы (ЭКБ)
      • Рабочее место контроля пассивных компонентов
      • Рабочее место контроля проводов
      • Рабочее место контроля бескорпусных транзисторов
      • Рабочее место контроля реле
      • Рабочее место контроля цифровых микросхем
      • Рабочее место визуального контроля
      • Рабочее место контроля геометрических размеров компонентов
    • Производители
  • Собственные разработки
  • База знаний
    • Статьи и публикации
    • Каталоги и брошюры
    • Глоссарий
    • Задать вопрос
    • Видео
  • Клиентам
    • Личные данные
    • Ваше оборудование
    • Заявки на сервис
    • Анкеты
    • Задать вопрос
    • Лист запросов
    • Подписка
  • Контакты
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
  • Главная страница
  • Каталог оборудования
  • Решения для производств радиоэлектронной аппаратуры (платы, модули, сборки)
  • Тестовые системы с летающими пробниками

Установка внутрисхемного контроля и тестирования с «летающими» пробниками

ООО «Остек-Электро»
Молдавская ул., д. 5, стр. 2, Москва, Россия, 121467
Тел.: +7 (495) 788-44-44, факс: +7 (495) 788-44-42,
www.ostec-group.ru, info@ostec-group.ru
ИНН 7731483966, КПП 773101001, ОГРН 5147746324754,
ОКПО 17184889
Установка внутрисхемного контроля и тестирования с «летающими» пробниками Установка внутрисхемного контроля и тестирования с «летающими» пробниками Установка внутрисхемного контроля и тестирования с «летающими» пробниками
Добавить в лист запросов запросить в один клик Заказать звонок
Печать/PDF
  • Описание
  • Технические характеристики
  • Видео

Выбор тестового решения может быть продиктован требованиями к высокой производительности сборочного производства. В режиме работы средне- и крупносерийного предприятия такая машина способна служить альтернативой традиционным адаптерным тестерам. Это оптимальный баланс производительности и полной стоимости владения оборудованием для современных предприятий, производящих массовые радиоэлектронные изделия.

Характерные особенности системы:

  • высокоточный линейный привод;
  • повышенная производительность, 100% локализация дефекта;
  • автоматизированная загрузка изделия в рабочую зону;
  • работа в производственной линии;
  • выявление контрафактной ЭКБ.

Применение линейных приводов, высокая скорость измерения и интеграция в производственную линию позволяют системам тестировать печатные узлы в условиях крупносерийного производства. Использование модульного принципа дает возможность начать контроль выпускаемой продукции с минимальными начальными затратами и наращивать производительность пропорционально росту объемов производства.

Высокая адаптивность систем с «летающими» пробниками значительно сокращает время переналадки системы при смене выпускаемого изделия. Исключается необходимость изготовления уникальных адаптеров под каждый печатный узел.

Система может работать с любым изделием, при разработке которого даже не закладывалось проведение внутрисхемного контроля.

Требования по подключению:

Электропитание . . . . . . . . . . . . . . . 220В, 50Гц

Потребление сжатого воздуха . . . 50 л/мин

ict.jpg   nzt.jpg   open-pin.jpg   2d.jpg   laser.jpg  led.jpg


Внутрисхемное тестирование

Внутрисхемное тестирование или контроль – комплекс работ, позволяющий произвести электрическую проверку всей схемы на ее соответствие технической документации. Подобная проверка проводится только в автоматическом режиме (вручную это сделать невозможно) при отсутствии подачи питания на проверяемое устройство. Для проведения подобного тестирования необходима конструкторская документация, позволяющая определить алгоритм проверки (вся процедура идет обычно автоматически без участия при этом человека),


##CUT##

Внутрисхемный контроль обычно идет в два этапа:

  • Соответствие требованиям всех электрических связей и контроль отсутствия короткого замыкания между ними.
  • Определение номиналов каждого из компонентов платы (конденсаторы, резисторы, трансформаторы и так далее) с последующим сравнением данных с теми, которые указаны в приложенном перечне. При этом учитывается возможность шунтирования отдельных компонентов.

Если стратегия, по которой идет внутрисхемное тестирование, правильная, то разработчик может получить достоверные данные о корректности работы пласты на практике. При этом контроль носит скорее психологический характер, ведь иногда случается ситуация, когда тестирование проведено успешно, а устройство работает некорректно. В этом случае нужно дополнительное внутрисхемное тестирование, позволяющее определить конкретную вышедшую из строя цепь или найти отдельный нерабочий элемент.

Внутрисхемный контроль. Основные технологии проведения

На практике сегодня применяются следующие методы тестирования:

  1. Метод измерения узловых импедансов, позволяющий определить потенциально ненадежные места во всей схеме.
  2. Electro Svan – методика позволяющая определить наличие скрытых соединений, что важно при исследовании из-за возможных дефектов в невидимых цепях.
  3. Периферийное сканирование, использующееся для проверки качества цифровой микросхемы.

Иногда оказывается, что проведенное внутрисхемное тестирование по всем правилам подтверждает полное соответствие схемы конструкторской документации, но в реальности при функциональной дальнейшей проверке оказывается, что система нерабочая. Здесь можно говорить о высокой вероятности конструкторской ошибки (на практике уже были случаи, когда ошибки выявлялись лишь через несколько лет после начала серийного выпуска).

Параметр Значение
Количество подвижных тестовых пробников (щупов) от 2 до 4 шт.
Фиксированный угол наклона тестовых пробников 16° и 5°
Количество видеокамер 1 или 2
Тип привода Линейный, по осям X, Y, Z
Тип загрузки Автомат
Габариты 1360×1100×1560 мм
Рабочая зона тестирования 500×400 мм
Толщина тестируемой платы От 0,6 до 4,8 мм
Диапазон измерения сопротивления от 1 мОм до 1 ГОм
Диапазон измерения емкости от 0,1 пФ до 1 Ф
Диапазон измерения индуктивности от 0,1 мкГн до 1 Гн
Разрешение датчика позиционирования 1,25 мкм
Минимальный шаг перемещения щупа 5 мкм

Запросить в один клик

Ваше имя
Телефон
E-mail
Город
Организация
Текст вопроса


Текст с картинки
Заказать звонок
Ваше имя
Телефон
E-mail
Текст вопроса
*

Заполните форму

Организация
Фамилия
Имя
Отчество
Должность
E-mail
Телефон
Город
Укажите желаемую дату посещения
CAPTCHA
Текст с картинки

Запрос оборудования на тестирование

Ваше имя
Телефон
E-mail
Город
Организация
Текст сообщения


Текст с картинки

1Лист запросов
× Установка внутрисхемного контроля и тестирования с «летающими» пробниками
В лист запросов →
© 2020 ООО «Остек-Электро»
+7 495 788-44-44
Сервисный центр
8 800 700-39-39 service@ostec-group.ru
Свяжитесь с нами
© 2020 ООО «Остек-Электро»
Ваша заявка принята. Спасибо
Заявка успешно отправлена.

Менеджер свяжется с вами в ближайшее время

Ошибка соединения.