Зондовые станции (Probe Stations)

Проб-карта с широкой полосой пропускания с иглами кантилеверного типа предназначена для проведения высокоскоростных параметрических тестов: тестирование флэш-памяти, памяти с произвольным доступом, импульсных вольтамперных характеристик и др. Возможно проведение измерений при температуре окружающей среды до 200 °С. Малошумящее полностью экранированное основание позволяет получать S-параметры с высокой точностью и хорошее соотношение сигнал/шум.

Проб-карта предназначена для проведения измерений специализированных изделий (MEMs, CIS-устройства). Генерирует минимальное количество частиц, что позволяет проводить тестирование непосредственно в процессе производства. Специальные соединители обеспечивают низкие утечки и высокотемпературные измерения.

Проб-карта с архитектурой, полностью совместимой с тестерами Keysight 4070/4080. Позволяет проводить быстрые, точные и воспроизводимые измерения низких сопротивлений, низких токов и емкостей. Возможно проведение измерений при температурах до 300 °С. Основание из многослойной керамики обеспечивает полную экранировку и низкие утечки для тестирования низковольтных нанометровых устройств и медной разводки.

Многофункциональная модульная ручная зондовая станция с возможностью проведения DC-, СВЧ-измерений и разбраковки кристаллов, оптимизированная для точной интеграции с преобразователями частоты VDI, OML, Keysight и R&S. Имеет возможность северного и южного расположения дополнительных зондов. Оснащена встроенной шкалой для измерения следов контакта зондов.

Многофункциональная модульная ручная зондовая станция с возможностью проведения DC-, СВЧ-измерений и разбраковки кристаллов, оптимизированная для точной интеграции с преобразователями частоты Anritsu. Оснащена интегрированным радиатором для охлаждения зондов и преобразователей частоты. Совместима с 4,5-дюймовым держателем проб-карт.

Виброизоляционный стол напольного или настольного исполнения для защиты от вибраций от 2 и от 5 Гц соответственно. Система автоматического выравнивания поверхности столика. Четыре воздушных подушки, расположенных по углам столика.

Экранированная камера для исключения внешнего электромагнитного и электростатического воздействия. Позволяет проводить высокоточные измерения, подавать инертные газы для исключения окисления и выпадения инея на высоких и низких температурах измерения соответственно. Возможность изготовление камер нестандартных размеров.